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公开(公告)号：CN100530385C
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：CN200710072530.7
申请日：2007-07-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 原子力显微镜探针纳米压痕实现高密度信息存储的方法，本发明涉及一种高密度信息存储的方法。它克服了现有技术只能写入信息而不能擦除的缺陷。本发明通过下述步骤实现：一、制得苯乙烯-乙烯-丁二烯-苯乙烯嵌段共聚物薄膜，并使该薄膜的相分离形态为球形结构；二、利用原子力显微镜扫描探针在薄膜表面进行敲击以形成纳米压痕，以实现高密度信息存储中的“写入”过程；三、对该薄膜进行加热处理，薄膜表面的纳米压痕回复，实现存储信息的“擦除”。本发明制备了一种特殊功能膜，使得原子力显微镜探针在敲击模式下可以利用针尖与薄膜间的敲击力在薄膜表面制备纳米压痕，并且此压痕可以通过高温处理来擦除。处理温度越高，压痕消失速度越快。
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公开(公告)号：CN101329158A
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：CN200810136808.7
申请日：2008-07-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B7/06
Abstract: 原子力显微镜测量固体薄膜厚度的方法，它涉及一种测量固体薄膜厚度的方法。本发明解决了现有的光学方法测膜厚存在测量范围有限、薄膜种类受限以及非光学方法存在测量误差较大的问题。方法一：将试样剪成两部分得到待测薄膜的垂直断面；将待测试样插入去离子水中，待待测薄膜漂浮于水面后，再用备用基底将其捞起；待其干燥后用原子力显微镜即可测出待测薄膜的厚度。方法二：将试样放入去离子水中；对所述试样进行超声处理，待待测薄膜插入液面以下部分变为碎屑从基底上脱落，露出基底后停止超声，取出待其干燥后用原子力显微镜直接扫描待测薄膜的断面区域即可测出待测薄膜厚度。本发明方法具有测量结果准确、操作简单、量程大、适用范围广等优点。
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公开(公告)号：CN101136227A
公开(公告)日：2008-03-05
申请号：CN200710072530.7
申请日：2007-07-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: AFM探针纳米压痕实现高密度信息存储的方法，本发明涉及一种高密度信息存储的方法。它克服了现有技术只能写入信息而不能擦除的缺陷。本发明通过下述步骤实现：一、制得苯乙烯－乙烯－丁二烯－苯乙烯(SEBS)嵌段共聚物薄膜，并使该薄膜的相分离形态为球形结构；二、利用AFM扫描探针在薄膜表面进行敲击以形成纳米压痕，以实现高密度信息存储中的“写入”过程；三、对该薄膜进行加热处理，薄膜表面的纳米压痕回复，实现存储信息的“擦除”。本发明制备了一种特殊功能膜，使得AFM探针在敲击模式下可以利用针尖与薄膜间的敲击力在薄膜表面制备纳米压痕，并且此压痕可以通过高温处理来擦除。处理温度越高，压痕消失速度越快。
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