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公开(公告)号：CN109087274B
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN201810909279.3
申请日：2018-08-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开一种基于多维融合及语义分割的电子器件缺陷检测方法及装置，所述电子器件缺陷检测方法包括：步骤a，获取所述电子元器件外观的二维图像数据及三维点云数据；步骤c，对所述二维图像数据及所述三维点云数据进行配准处理，构建多通道复合图像；步骤d，通过语义分割网络对所述多通道复合图像进行缺陷检测和分类；所述电子器件缺陷检测装置包括对应的获取单元，复合单元和语义分割单元。通过语义分割网络进行缺陷检测，能够利用大量的样本数据，通过卷积的手段从多个层次提取待测缺陷的特征，从而为缺陷的检测和分类提供丰富而可靠的依据，提升检测精度。
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公开(公告)号：CN109087274A
公开(公告)日：2018-12-25
申请号：CN201810909279.3
申请日：2018-08-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开一种基于多维融合及语义分割的电子器件缺陷检测方法及装置，所述电子器件缺陷检测方法包括：步骤a，获取所述电子元器件外观的二维图像数据及三维点云数据；步骤c，对所述二维图像数据及所述三维点云数据进行配准处理，构建多通道复合图像；步骤d，通过语义分割网络对所述多通道复合图像进行缺陷检测和分类；所述电子器件缺陷检测装置包括对应的获取单元，复合单元和语义分割单元。通过语义分割网络进行缺陷检测，能够利用大量的样本数据，通过卷积的手段从多个层次提取待测缺陷的特征，从而为缺陷的检测和分类提供丰富而可靠的依据，提升检测精度。
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