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公开(公告)号：CN113838024A
公开(公告)日：2021-12-24
申请号：CN202111106032.6
申请日：2021-09-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及显示OLED面板缺陷预测技术领域，目的在于公开一种OLED面板微缺陷预测方法，所述预测方法包括以下步骤：(1)通过双三次插值的方法来放大未知缺陷信息；(2)通过mosaic方法来扩展数据集，以提高模型对少样本的预测能力；(3)通过残差网络、池化层和上采样层构造低分辨率图像生成器，由残差网络和全连接层构成判别器；(4)由若干从残差模块进行跳跃的连接构成高分辨率图像生成器，由最大池化层和残差网络构造高分辨率图像判别器。本发明通过放大未知缺陷信息、扩展测试数据集，可以在检测之前有效地对样本所含缺陷种类进行预测，以进行有目的性的进行缺陷识别，提升效率。
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