公开(公告)号：CN103528963B

公开(公告)日：2016-02-17

申请号：CN201310533552.4

申请日：2013-11-01

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 齐宏 ,  牛春洋 ,  宫帅 ,  阮立明

IPC: G01N21/17

Abstract: 采用多频调制激光加热与光热信息重建技术的半透明材料辐射特性测量方法，涉及一种测量半透明材料辐射特性参数的方法。其步骤为：分别采用不同频率的激光照射半透明材料的一侧表面，使用光电探测器分别测量在该入射激光频率下材料激光入射侧的频域半球反射辐射信号和激光出射侧的频域半球透射辐射信号，同时利用热电偶测温仪测量并记录材料两表面温度随时间的变化。根据频域半球反射辐射信号、频域半球透射辐射信号以及两表面随时间变化的温度，通过逆问题求解技术获得半透明材料的衰减系数和反照率。本发明通过建立测量半透明材料衰减系数和反照率的正、逆问题模型，能简单、快速、准确的利用逆问题求解技术同时测量半透明材料衰减系数和反照率。

公开(公告)号：CN103528963A

公开(公告)日：2014-01-22

申请号：CN201310533552.4

申请日：2013-11-01

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 齐宏 ,  牛春洋 ,  宫帅 ,  阮立明

IPC: G01N21/17

Abstract: 采用多频调制激光加热与光热信息重建技术的半透明材料辐射特性测量方法，涉及一种测量半透明材料辐射特性参数的方法。其步骤为：分别采用不同频率的激光照射半透明材料的一侧表面，使用光电探测器分别测量在该入射激光频率下材料激光入射侧的频域半球反射辐射信号和激光出射侧的频域半球透射辐射信号，同时利用热电偶测温仪测量并记录材料两表面温度随时间的变化。根据频域半球反射辐射信号、频域半球透射辐射信号以及两表面随时间变化的温度，通过逆问题求解技术获得半透明材料的衰减系数和反照率。本发明通过建立测量半透明材料衰减系数和反照率的正、逆问题模型，能简单、快速、准确的利用逆问题求解技术同时测量半透明材料衰减系数和反照率。