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公开(公告)号:CN108399622A
公开(公告)日:2018-08-14
申请号:CN201810172380.5
申请日:2018-03-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于非负稀疏特性的高光谱图像异常检测方法,属于高光谱异常检测领域。解决现有高光谱图像异常检测的准确性低的问题。本发明方法包括如下步骤:步骤一:根据高光谱图像X获取光谱图像的非负稀疏矩阵St′;步骤二:根据非负稀疏矩阵St′对高光谱图像X进行异常检测,获取高光谱图像中每个像元的异常度;步骤三:通过阈值分割方式,根据高光谱图像中每个像元的异常度确定每个异常度所对应像元是否为异常,从而完成对高光谱图像异常检测。本发明主要用于对高光谱图像进行异常检测。
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公开(公告)号:CN108399622B
公开(公告)日:2021-04-09
申请号:CN201810172380.5
申请日:2018-03-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于非负稀疏特性的高光谱图像异常检测方法,属于高光谱异常检测领域。解决现有高光谱图像异常检测的准确性低的问题。本发明方法包括如下步骤:步骤一:根据高光谱图像X获取光谱图像的非负稀疏矩阵St′;步骤二:根据非负稀疏矩阵St′对高光谱图像X进行异常检测,获取高光谱图像中每个像元的异常度;步骤三:通过阈值分割方式,根据高光谱图像中每个像元的异常度确定每个异常度所对应像元是否为异常,从而完成对高光谱图像异常检测。本发明主要用于对高光谱图像进行异常检测。
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