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公开(公告)号：CN118174985A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202211573577.2
申请日：2022-12-08
IPC: H04L12/66 , H04L67/12 , H04L67/125 , H04L41/0663 , H04L9/40 , H04W88/16 , H04W4/38 , H04W12/06
Abstract: 本申请公开了一种物联网网关、数据监测方法及数据监测系统，涉及物联网技术领域。物联网网关包括传感模块、处理模块和传输模块，处理模块分别与传感模块和传输模块通信连接。传感模块用于获取待监测对象的环境信号，向处理模块传输环境信号；处理模块用于基于环境信号获取待监测对象的环境数据，向传输模块传输环境数据；传输模块用于向物联网平台传输环境数据。由于物联网网关具有传感能力、信号处理能力和通信能力，从而以较少的设备数量和种类即可实现由获取环境信号直到后续将环境数据向物联网平台传输的过程，设备成本较低且占用空间较小，易于部署和运维，故障排查难度较低。
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公开(公告)号：CN116576984A
公开(公告)日：2023-08-11
申请号：CN202310225828.6
申请日：2023-03-09
Abstract: 本发明提供了一种高灵敏度瑞利分布式温度和应变测量装置及方法，该装置包括：第一激光器、耦合器、脉冲光调制光路、激光器频率锁定光路、待测光纤和探测器；第一激光器输出的光束经过耦合器分为第一光束和第二光束；第一光束经过脉冲光调制光路形成不同频率的扫频脉冲光；第二光束经过激光器频率锁定光路光路形成反馈回激光器的补偿电压，使激光器的输出频率锁定；脉冲光从待测光纤的一端注入，在待测光纤中发生瑞利散射产生后向瑞利散射信号；探测器对后向瑞利散射信号进行采集，得到后向瑞利散射谱，通过后向瑞利散射谱的频移值确定待测温度和应变值。本发明的上述技术能够实现高灵敏度的瑞利分布式温度和应变的绝对测量。
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公开(公告)号：CN106644852B
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201610907548.3
申请日：2016-10-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法，本发明涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明利用脉冲激光照射颗粒系统样品表面，通过改变试件的厚度以及入射激光的波长，然后测量不同角度的时域透射及反射信号，然后结合这些信号并通过逆问题求解技术获得球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布。本发明通过建立测量颗粒系统光学常数与颗粒系粒径分布的正、逆问题模型，在已知介质其他物性参数的前提下而提出。本发明适用于同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量场合。
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公开(公告)号：CN106644852A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201610907548.3
申请日：2016-10-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01N15/0211 , G01N15/00
Abstract: 基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法，本发明涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明利用脉冲激光照射颗粒系统样品表面，通过改变试件的厚度以及入射激光的波长，然后测量不同角度的时域透射及反射信号，然后结合这些信号并通过逆问题求解技术获得球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布。本发明通过建立测量颗粒系统光学常数与颗粒系粒径分布的正、逆问题模型，在已知介质其他物性参数的前提下而提出。本发明适用于同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量场合。
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