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公开(公告)号：CN105136361A
公开(公告)日：2015-12-09
申请号：CN201510563598.X
申请日：2015-09-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01L1/25
Abstract: 一种用X射线衍射测定立方单晶体材料应力的方法，涉及一种测定立方单晶体材料应力的方法。本发明为了解决现有的单晶体材料应力的测量方法测定结果的可靠性不高的问题。本发明首先利用极图技术，准确确定晶体的方向；对处理后的试样利用X射线衍射技术得到极图，通过极图分析进一步得到方位角和ψ；然后建立关系坐标系并且进行单晶定向；根据关系坐标系以及弹性力学应力应变的关系，得到2θ-2θ0＝A1σ11+A2σ12+A3σ22，然后通过改变方位角ψ和分别求得A1，A2，A3代入公式2θ-2θ0＝A1σ11+A2σ12+A3σ22，进而求得σ11、σ12、σ22。本发明适用于测定立方单晶体材料的应力。
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