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公开(公告)号：CN116338414B
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202310632742.5
申请日：2023-05-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种Micro‑LED巨量转移电性能测试装置及测试方法，涉及测试装置技术领域，测试装置包括工作台，工作台上安装有测试组件，还包括外加温度场装置；测试组件包括安装架、安装杆、若干连接杆和若干测试头；测试头包括安装头和探针，探针包括活动杆和容纳杆，容纳杆上设置有容纳孔，活动杆位于容纳孔内的一端设置有永磁体一，容纳孔的孔底设置有永磁体二；安装杆设置在安装架上，相邻两连接杆之间设置有热致伸缩材料。本发明能够减少Micro‑LED损坏的几率；测试组件能够根据需要调整测试头之间的间距，从而在一个测试装置上实现对多个目标基板上不同间距的Micro‑LED的电性测试。
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公开(公告)号：CN116338414A
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202310632742.5
申请日：2023-05-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种Micro‑LED巨量转移电性能测试装置及测试方法，涉及测试装置技术领域，测试装置包括工作台，工作台上安装有测试组件，还包括外加温度场装置；测试组件包括安装架、安装杆、若干连接杆和若干测试头；测试头包括安装头和探针，探针包括活动杆和容纳杆，容纳杆上设置有容纳孔，活动杆位于容纳孔内的一端设置有永磁体一，容纳孔的孔底设置有永磁体二；安装杆设置在安装架上，相邻两连接杆之间设置有热致伸缩材料。本发明能够减少Micro‑LED损坏的几率；测试组件能够根据需要调整测试头之间的间距，从而在一个测试装置上实现对多个目标基板上不同间距的Micro‑LED的电性测试。
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