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公开(公告)号：CN100339693C
公开(公告)日：2007-09-26
申请号：CN200410044042.1
申请日：2004-11-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01M7/00
Abstract: 颗粒碰撞噪声检测仪的振动台驱动系统，它涉及的是颗粒碰撞噪声检测仪系统。(1)的控制数据信号输出端连接(4)的键盘控制信号输入端，(2)的控制数据输入端连接(4)的控制数据信号输出端，(3)的通信数据输出输入端连接(4)的通信数据输入输出端，(5)的控制数据输入端连接(4)的第一控制数据输出端，(2)、(5)的数据输入端、(6)的第一数据输入端与(4)的数据输出端相连接，(6)的控制信号输入端连接(4)第二控制数据输出端，(5)的数据输出端连接(6)的第二数据输入端，(6)的功率驱动信号输出端连接(7)的信号输入端，(7)的功率驱动信号输出端与(8)的信号输入端相连接。本发明能使振动台实现振动动作、手动冲击动作、扫频动作、混合方式动作，它具有可编程、集成度高等优点。
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公开(公告)号：CN101806861A
公开(公告)日：2010-08-18
申请号：CN201010149035.3
申请日：2010-04-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/327 , G06F19/00
Abstract: 本发明提供一种密封电磁继电器电接触失效类别判定方法。方法步骤如下：首先对多只密封电磁继电器试验样品进行可靠性寿命试验，记录整个试验过程各试验样品接触电阻等特性参数与动作次数的关系；以接触电阻等六个特性参数构成数据矩阵Xn×6，采用主元分析方法对多维特性参数数据进行降维预处理，从降维后的数据中提取相应数学特征并按失效机理不同进行分类，采用距离判别方法计算新试验样本与各类训练样本的马氏距离，通过比较马氏距离大小确定失效类型；本发明无需开壳借助光学显微镜等仪器进行失效分析。可排除其他诱因导致的干扰因素，使真正的失效原因得以暴露定位。
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公开(公告)号：CN1719251A
公开(公告)日：2006-01-11
申请号：CN200510010203.X
申请日：2005-07-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 密封电磁继电器多余物微粒的复合检测系统，它具体涉及继电器内部多余物的检测方法，它的目的是为了解决现有的马特拉方法检测效率低，无法测定存在于密封电磁继电器衔铁与极面之间的多余物微粒及无法进一步分析多余物微粒对继电器造成的危害程度的问题。本发明的3的控制信号输出端连接4的信号输入端，3的测量数据输入端连接5的测量数据输出端，4的多路控制信号输出端连接6、7和8，6的触发信号输出端连接5，7的测量数据输出端连接5，8的测量数据输出端连接5。本发明利用测试动态参数能有效地检测出存在于密封电磁继电器衔铁与极面之间的多余物微粒，并根据动态参数序列来判定多余物的大小及它对密封电磁继电器功能造成的危害程度。
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公开(公告)号：CN101806861B
公开(公告)日：2012-02-15
申请号：CN201010149035.3
申请日：2010-04-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/327 , G06F19/00
Abstract: 本发明提供一种密封电磁继电器电接触失效类别判定方法。方法步骤如下：首先对多只密封电磁继电器试验样品进行可靠性寿命试验，记录整个试验过程各试验样品接触电阻等特性参数与动作次数的关系；以接触电阻等六个特性参数构成数据矩阵Xn×6，采用主元分析方法对多维特性参数数据进行降维预处理，从降维后的数据中提取相应数学特征并按失效机理不同进行分类，采用距离判别方法计算新试验样本与各类训练样本的马氏距离，通过比较马氏距离大小确定失效类型；本发明无需开壳借助光学显微镜等仪器进行失效分析。可排除其他诱因导致的干扰因素，使真正的失效原因得以暴露定位。
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公开(公告)号：CN101806860B
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：CN201010135422.1
申请日：2010-03-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/327
Abstract: 可调装配参数的电磁继电器寿命测试装置，它涉及一种电磁继电器寿命测试装置。本发明解决了现有的电磁继电器寿命测试装置无法通过改变装配参数研究其对于电磁吸力与机械反力的配合关系及对电寿命影响的问题。调整块安装在第一丝杠上且二者之间螺纹连接，竖直方向调整装置下端固装在两块立板的上端面上且位于两块立板的同一侧，两个固定块对称固装在竖直方向调整装置的前侧壁上，两个传感器托架对称固装在竖直方向调整装置的前侧壁上且位于两个固定块之间，两个压力传感器位于两个传感器托架上且分别与传感器托架滑动连接。本发明能够改变装配参数来研究其不同组合对于电磁吸力和机械反力的配合关系的影响，并能得出其对电磁继电器电寿命的影响。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101625395B
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：CN200910072705.3
申请日：2009-08-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/327
Abstract: 本发明提供一种最多可同时测量6组转换触点、测量分辨率为1μs的继电器触点稳定时间的测量方法及其装置。它是由被测继电器、负载单元、信号调理单元、数据采集单元、总线、主控制单元、FPGA逻辑时序单元、人机交互单元和线圈驱动单元组成的，被测继电器连接负载单元，负载单元连接信号调理单元，信号调理单元连接数据采集单元，数据采集单元连接总线，总线连接主控制单元和FPGA逻辑时序单元，主控制单元分别连接人机交互单元、FPGA逻辑时序单元和线圈驱动单元，线圈驱动单元连接被测继电器。本发明具有测量精度高、测量过程自动化、测量步骤简单、操作方便，测量装置体积小，重量轻等优点。
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公开(公告)号：CN101625395A
公开(公告)日：2010-01-13
申请号：CN200910072705.3
申请日：2009-08-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/327
Abstract: 本发明提供一种最多可同时测量6组转换触点、测量分辨率为1μs的继电器触点稳定时间的测量方法及其装置。它是由被测继电器、负载单元、信号调理单元、数据采集单元、总线、主控制单元、FPGA逻辑时序单元、人机交互单元和线圈驱动单元组成的，被测继电器连接负载单元，负载单元连接信号调理单元，信号调理单元连接数据采集单元，数据采集单元连接总线，总线连接主控制单元和FPGA逻辑时序单元，主控制单元分别连接人机交互单元、FPGA逻辑时序单元和线圈驱动单元，线圈驱动单元连接被测继电器。本发明具有测量精度高、测量过程自动化、测量步骤简单、操作方便，测量装置体积小，重量轻等优点。
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公开(公告)号：CN100489523C
公开(公告)日：2009-05-20
申请号：CN200510010203.X
申请日：2005-07-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 密封电磁继电器多余物微粒的复合检测系统，它具体涉及继电器内部多余物的检测方法，它的目的是为了解决现有的马特拉方法检测效率低，无法测定存在于密封电磁继电器衔铁与极面之间的多余物微粒及无法进一步分析多余物微粒对继电器造成的危害程度的问题。本发明的3的控制信号输出端连接4的信号输入端，3的测量数据输入端连接5的测量数据输出端，4的多路控制信号输出端连接6、7和8，6的触发信号输出端连接5，7的测量数据输出端连接5，8的测量数据输出端连接5。本发明利用测试动态参数能有效地检测出存在于密封电磁继电器衔铁与极面之间的多余物微粒，并根据动态参数序列来判定多余物的大小及它对密封电磁继电器功能造成的危害程度。
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公开(公告)号：CN101806860A
公开(公告)日：2010-08-18
申请号：CN201010135422.1
申请日：2010-03-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/327
Abstract: 可调装配参数的电磁继电器寿命测试装置，它涉及一种电磁继电器寿命测试装置。本发明解决了现有的电磁继电器寿命测试装置无法通过改变装配参数研究其对于电磁吸力与机械反力的配合关系及对电寿命影响的问题。调整块安装在第一丝杠上且二者之间螺纹连接，竖直方向调整装置下端固装在两块立板的上端面上且位于两块立板的同一侧，两个固定块对称固装在竖直方向调整装置的前侧壁上，两个传感器托架对称固装在竖直方向调整装置的前侧壁上且位于两个固定块之间，两个压力传感器位于两个传感器托架上且分别与传感器托架滑动连接。本发明能够改变装配参数来研究其不同组合对于电磁吸力和机械反力的配合关系的影响，并能得出其对电磁继电器电寿命的影响。
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公开(公告)号：CN101344575A
公开(公告)日：2009-01-14
申请号：CN200810136960.5
申请日：2008-08-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/327
Abstract: 本发明针对当前寿命实验装置中实验效率低、周期长、成本高具有破坏性等缺点，同时在一定的加速寿命理论研究基础上，提出一种基于动态特性的继电器可靠性寿命试验系统。系统能够以继电器的动作频率和负载作为继电器加速寿命的环境变量，实现一种非破坏性、高效的试验测试技术。系统至少可同时测试的转换触点总数为10组，线圈总数为10组，并具有灵活扩展性；采样的参数分辨率为：1μs；动作频率可设定为不超过120次/min。系统组成包括：主控制单元，继电器驱动单元，数据采集及处理单元，上位机处理单元。
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