公开(公告)号：CN116183723A

公开(公告)日：2023-05-30

申请号：CN202211574503.0

申请日：2022-12-08

Applicant: 同济大学

Inventor： 张振 ,  曹安东 ,  龙志远 ,  李倩 ,  李岩

IPC: G01N29/12 ,  G01N29/22 ,  G01N29/24 ,  G01N29/46

Abstract: 本发明涉及一种基于透射超声频率迁移的孔隙和褶皱缺陷检测识别方法，包括以下步骤：S1、选定厚度大于10mm的复合材料结构的待测区域以及发射相控阵和接收相控阵的位置；S2、利用实验设备采集待测区域内的超声透射信号并搭建实验系统；S3、使用步骤S2搭建的实验系统，激励发射相控阵并保存接收相控阵采集的数据；S4、对步骤S3中采集到的超声透射信号数据进行同步小波挤压变换，并对处理得到的时频谱进行归一化处理；S5、根据步骤S4得到的时频谱归一图，通过判断是否出现高频信号分量和缺陷类型，输出相应检测结果。与现有技术相比，本发明利用发现的超声透射信号频率迁移现象，通过在待测复合材料的一侧布置发射相控阵，在另一侧布置接收相控阵的方式，解决了传统基于能量损失的超声技术难以检测识别含孔隙和纤维褶皱混合缺陷大厚度复合材料结构的难题。