公开(公告)号：CN104374749B

公开(公告)日：2017-09-29

申请号：CN201410686055.2

申请日：2014-11-24

Applicant: 吉林大学

Inventor： 王娜 ,  王忠文

IPC: G01N21/59

Abstract: 本发明公开了一种晶体矿物的透光率检测装置，包括直流电源、第一发光二极管至第五发光二极管、第一电阻至第六电阻、时基集成芯片、与非门芯片、光敏电阻、第一电容、第二电容、电位器和二极管，将待检测的晶体矿物质防止与第一发光二极管与光敏电阻之间，第一发光二极管的光穿过晶体矿物后照射到光敏电阻上，光敏电阻的阻值改变，从而使时基集成芯片触发与非门芯片控制第二发光二极管至第五发光二极管的点亮个数，点亮个数越多，证明晶体矿物的透光率越高，反之越低。与现有技术相比，本发明采用电子仪器对晶体矿物进行透光度检测，通过光感应而实现，检测快速，检测结果精确而便于观察，使用方便，具有推广应用的价值。

公开(公告)号：CN104374749A

公开(公告)日：2015-02-25

申请号：CN201410686055.2

申请日：2014-11-24

Applicant: 吉林大学

Inventor： 王忠文

IPC: G01N21/59

Abstract: 本发明公开了一种晶体矿物的透光率检测装置，包括直流电源、第一发光二极管至第五发光二极管、第一电阻至第六电阻、时基集成芯片、与非门芯片、光敏电阻、第一电容、第二电容、电位器和二极管，将待检测的晶体矿物质防止与第一发光二极管与光敏电阻之间，第一发光二极管的光穿过晶体矿物后照射到光敏电阻上，光敏电阻的阻值改变，从而使时基集成芯片触发与非门芯片控制第二发光二极管至第五发光二极管的点亮个数，点亮个数越多，证明晶体矿物的透光率越高，反之越低。与现有技术相比，本发明采用电子仪器对晶体矿物进行透光度检测，通过光感应而实现，检测快速，检测结果精确而便于观察，使用方便，具有推广应用的价值。

公开(公告)号：CN204286963U

公开(公告)日：2015-04-22

申请号：CN201420786496.5

申请日：2014-12-12

Applicant: 吉林大学

Inventor： 王忠文

IPC: G01N3/40

Abstract: 本实用新型公开了一种矿物硬度检测装置，包括位移传感器、弹簧、壳体、检测针和报警装置，所述壳体的上端与所述位移传感器的壳体连接，所述检测针的上端与所述位移传感器的检测端连接，所述弹簧设置于所述壳体与所述检测针之间，所述位移传感器的信号输出端与所述报警装置的信号输入端连接。与现有技术相比，本实用新型采用电子元件组成硬度检测装置，采用电子元件少，成本低廉，体积小，容易携带，利用电子元件组成设计，能够提高检测精度，使用方便，检测快捷，具有推广应用的价值。