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公开(公告)号：CN116068470A
公开(公告)日：2023-05-05
申请号：CN202310210654.6
申请日：2023-03-07
Applicant: 吉林大学
Abstract: 本发明涉及温度控制装置，特别是指一种核磁共振测试过程中的样品温度控制装置，所述样品温度控制装置包括样品装填单元与样品控温单元；所述样品装填单元中的样品室位于整个所述样品温度控制装置的最内部，用于放置实验样品；所述样品控温单元包括冻融温度控制组件与环境温度控制组件，所述冻融温度控制组件用于控制样品冻结、融化的温度与方向，所述环境温度控制组件用于控制所处的环境温度。本发明能够有效解决因核磁共振测试过程中仪器温度升高而对样品温度产生影响的问题，既可以使样品处于恒温状态，又可以模拟定向冻融过程中样品温度梯度的变化。
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