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公开(公告)号：CN108956554A
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201810477183.4
申请日：2018-05-18
Applicant: 吉林大学
CPC classification number: G01N21/274 , G01N21/6404 , G01N2021/6421
Abstract: 本发明涉及一种基于数字微镜阵列的原子荧光光谱仪的波长校准方法，该方法包括下述步骤：计算得到数字微镜列位置与标准波长间的基本函数关系式；计算拟合误差并将其存到“波长误差”Column中的对应位置；针对待测样品，用户选择要测量的预检荧光波长，利用“波长误差”Column中存储的波长误差对预检荧光波长进行校正得到已校准波长，带入步骤二中的基本函数关系式中反算出数字微镜应翻转的列，从而得到待测样品的测量波长，获得准确荧光强度值。带入步骤二中的基本函数关系式中反算出数字微镜应翻转的列位置，从而测量待测样品的测量波长，获得准确荧光强度值。利用本发明能够准确测量待测样品波长位置的荧光强度信息。
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公开(公告)号：CN108956554B
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN201810477183.4
申请日：2018-05-18
Applicant: 吉林大学
Abstract: 本发明涉及一种基于数字微镜阵列的原子荧光光谱仪的波长校准方法，该方法包括下述步骤：计算得到数字微镜列位置与标准波长间的基本函数关系式；计算拟合误差并将其存到“波长误差”Column中的对应位置；针对待测样品，用户选择要测量的预检荧光波长，利用“波长误差”Column中存储的波长误差对预检荧光波长进行校正得到已校准波长，带入步骤二中的基本函数关系式中反算出数字微镜应翻转的列，从而得到待测样品的测量波长，获得准确荧光强度值。带入步骤二中的基本函数关系式中反算出数字微镜应翻转的列位置，从而测量待测样品的测量波长，获得准确荧光强度值。利用本发明能够准确测量待测样品波长位置的荧光强度信息。
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公开(公告)号：CN108693155B
公开(公告)日：2020-09-01
申请号：CN201810477122.8
申请日：2018-05-18
Applicant: 吉林大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明涉及一种基于DMD的原子荧光多通道检测光源杂质干扰校正方法，该方法如下：建立原子荧光元素特征谱线库；利用色散原子荧光检测系统对含有杂质的待测元素的荧光信号进行采集并生成谱图；利用色散原子荧光检测系统对杂质元素的荧光信号进行采集并生成谱图；根据含有杂质的待测元素荧光信号中杂质元素谱峰的强度及杂质元素的荧光信号谱图，计算干扰系数；利用非色散原子荧光检测系统，对元素进行多通道检测；根据多通道检测得到的含有杂质的待测元素及杂质元素的荧光强度和计算得到的干扰系数，便可对光源杂质干扰进行校正。本发明能够对检测过程中的光源杂质干扰进行有效地识别和扣除，提高了原子荧光光谱仪定量检测结果的准确性。
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公开(公告)号：CN108693155A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810477122.8
申请日：2018-05-18
Applicant: 吉林大学
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6404
Abstract: 本发明涉及一种基于DMD的原子荧光多通道检测光源杂质干扰校正方法，该方法如下：建立原子荧光元素特征谱线库；利用色散原子荧光检测系统对含有杂质的待测元素的荧光信号进行采集并生成谱图；利用色散原子荧光检测系统对杂质元素的荧光信号进行采集并生成谱图；根据含有杂质的待测元素荧光信号中杂质元素谱峰的强度及杂质元素的荧光信号谱图，计算干扰系数；利用非色散原子荧光检测系统，对元素进行多通道检测；根据多通道检测得到的含有杂质的待测元素及杂质元素的荧光强度和计算得到的干扰系数，便可对光源杂质干扰进行校正。本发明能够对检测过程中的光源杂质干扰进行有效地识别和扣除，提高了原子荧光光谱仪定量检测结果的准确性。
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