公开(公告)号：CN220473400U

公开(公告)日：2024-02-09

申请号：CN202321827665.0

申请日：2023-07-12

Applicant: 台达电子工业股份有限公司

Inventor： 张仁明 ,  陈正锴 ,  卢冠妤 ,  蔡竣宇

IPC: G01N21/95 ,  G01N21/01 ,  B65G29/00 ,  B65G47/14 ,  B65G47/34

Abstract: 一种外观检测设备，用以检测一旋转盘上的至少一电子元件，其中在一旋转盘的下侧以及上侧分别设置第一磁性元件以及第二磁性元，第一磁性元件和电子元件之间产生一磁性吸引力，且第二磁性元件和电子元件之间产生一磁性排斥力，借此能够使前述电子元件被定位在旋转盘上的预设位置，以利于取像装置对前述电子元件进行外观检测。

公开(公告)号：CN220671303U

公开(公告)日：2024-03-26

申请号：CN202321827661.2

申请日：2023-07-12

Applicant: 台达电子工业股份有限公司

Inventor： 张仁明 ,  陈正锴 ,  蔡竣宇 ,  卢冠妤

IPC: G01N21/95 ,  G01N21/01 ,  B65G35/00

Abstract: 一种外观检测设备，用以检测一旋转盘上的至少一电子元件，前述旋转盘以可旋转并可拆卸的方式设置于一基座上。一龙门结构设置于前述基座上，且至少一取像装置连接前述龙门结构，用以撷取前述电子元件的影像。特别地是，前述旋转盘能够通过前述龙门结构而移出外观检测设备。