公开(公告)号：CN1266462C

公开(公告)日：2006-07-26

申请号：CN02810770.5

申请日：2002-07-05

Applicant: 古河电气工业株式会社

Inventor： 松浦浩之 ,  依知川宽 ,  木村俊雄 ,  爱清武 ,  关政义

IPC: G01M11/00 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01M11/33

Abstract: 提供一种光模件检查方法和检查装置，给多个光模件分配通道号，并行地同时测量多个光模件的光特性和电特性所涉及的检查项目，并且每一通道号将多个检查项目所涉及的测量结果写入存储器，从而能省去等待时间，在短时间内高效检查多个光模件。

公开(公告)号：CN1529810A

公开(公告)日：2004-09-15

申请号：CN02810770.5

申请日：2002-07-05

Applicant: 古河电气工业株式会社

Inventor： 松浦浩之 ,  依知川宽 ,  木村俊雄 ,  爱清武 ,  关政义

IPC: G01M11/00 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01M11/33

Abstract: 提供一种光模件检查方法和检查装置，给多个光模件分配通道号，并行地同时测量多个光模件的光特性和电特性所涉及的检查项目，并且每一通道号将多个检查项目所涉及的测量结果写入存储器，从而能省去等待时间，在短时间内高效检查多个光模件。