公开(公告)号：CN100371721C

公开(公告)日：2008-02-27

申请号：CN200510054393.5

申请日：2005-03-08

Applicant: 友达光电股份有限公司

Inventor： 陈昶佑 ,  谢冠云 ,  尤建盛 ,  陈宜屏

IPC: G01R31/00 ,  G02F1/13 ,  G09G3/20

Abstract: 一种显示器的测试系统与方法，包括：一基板；数条讯号线，位于基板上；一驱动电路，具有数个连接垫，分别电性连接至数条讯号线；数个第一测试点，位于基板上，电性连接至数个连接垫；数个第一开关，电性连接数个第一测试点以及分别电性连接数个连接垫，其中数个第一测试点的数目少于数个连接垫的数目。本发明在基板上的驱动电路具有多数个连接垫分别地电性连接至多数条讯号线，且多数个第一开关，介于多数个第一测试点以及多数个连接垫之间，其中多数个第一测试点的数目少于多数个连接垫的数目。本发明提出了一种应用于显示器的测试结构，其不但可以随着需求得到精确的测试，且能够解决现有技术上制造规格困难的问题。

公开(公告)号：CN1667423A

公开(公告)日：2005-09-14

申请号：CN200510054393.5

申请日：2005-03-08

Applicant: 友达光电股份有限公司

Inventor： 陈昶佑 ,  谢冠云 ,  尤建盛 ,  陈宜屏

IPC: G01R31/00

Abstract: 一种显示器的测试系统与方法，包括：一基板；数条讯号线，位于基板上；一驱动电路，具有数个连接垫，分别电性连接至数条讯号线；数个第一测试点，位于基板上，电性连接至数个连接垫；数个第一开关，电性连接数个第一测试点以及分别电性连接数个连接垫，其中数个第一测试点的数目少于数个连接垫的数目。本发明在基板上的驱动电路具有多数个连接垫分别地电性连接至多数条讯号线，且多数个第一开关，介于多数个第一测试点以及多数个连接垫之间，其中多数个第一测试点的数目少于多数个连接垫的数目。本发明提出了一种应用于显示器的测试结构，其不但可以随着需求得到精确的测试，且能够解决现有技术上制造规格困难的问题。