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公开(公告)号:CN116152194A
公开(公告)日:2023-05-23
申请号:CN202310117531.8
申请日:2023-02-15
Applicant: 厦门理工学院
IPC: G06T7/00 , G06V10/762 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开一种物体缺陷检测方法、系统、设备及介质,涉及人工智能领域;采用特征提取模型提取目标图像集的特征,获得图像特征集;构建组稀疏约束的子空间聚类模型,并确定目标函数和约束条件;采用迭代的方式,根据约束条件对目标函数进行求解,得到子空间聚类模型在聚类损失最小时的模型参数的值;根据模型参数确定子空间聚类模型的簇中心后,计算图像特征集与簇中心的距离,得到目标图像集中的各目标物体的缺陷检测分类结果;本发明通过结合机器学习的方法和聚类算法的计算机视觉,能够实现缺陷的准确检测。