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发明公开
勺子缺陷检测方法、系统、电子设备及计算机存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN116152534A

公开(公告)日：2023-05-23

申请号：CN202310034771.1

申请日：2023-01-10

Applicant: 厦门理工学院

Inventor： 曾志强 , 邓照贤 , 王晓栋 , 严菲 , 金季岚 , 张泓

IPC: G06V10/762 , G06V10/778 , G06V10/77 , G06N3/088

Abstract: 本发明公开一种勺子缺陷检测方法、系统、电子设备及计算机存储介质，涉及机器学习领域，方法包括获取勺子图像；根据所述勺子图像构建空间自表示张量；根据所述空间自表示张量构建基于秩逼近和稀疏约束的多视图聚类模型；对所述多视图聚类模型的目标函数进行求解，得到多视图数据的相似矩阵；根据所述相似矩阵利用谱聚类算法进行聚类，得到勺子缺陷检测结果。本发明能提高聚类性能。

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