公开(公告)号：CN114218785A

公开(公告)日：2022-03-22

申请号：CN202111507237.5

申请日：2021-12-10

Applicant: 厦门大学

Inventor： 芮茵 ,  刘颜回 ,  徐志垚 ,  白晶晶 ,  吴攀

IPC: G06F30/20

Abstract: 一种含耦合阵列天线功率方向图受通道误差扰动分析方法，属于阵列天线技术领域。包括步骤，1)建立要进行误差分析的天线模型；2)设置误差模型；3)计算天线阵列理想场方向图；4)计算功率方向图期望；5)计算功率方向图方差；6)设置概率，计算受到通道误差扰动的含单元互耦效应的天线阵列功率方向图满足概率要求的上下限；7)判断含单元互耦效应的天线阵列功率方向图的期望、方差及上下限是否满足电性能要求；8)若满足天线阵列电性能，输出模型；若不满足天线阵列电性能要求，更新通道误差模型。解决通道误差对实际天线阵列造成影响后的性能评估问题，以此可指导实际天线阵列加工与制造时允许的误差范围。

公开(公告)号：CN114218785B

公开(公告)日：2024-06-28

申请号：CN202111507237.5

申请日：2021-12-10

Applicant: 厦门大学

Inventor： 芮茵 ,  刘颜回 ,  徐志垚 ,  白晶晶 ,  吴攀

IPC: G06F30/20

Abstract: 一种含耦合阵列天线功率方向图受通道误差扰动分析方法，属于阵列天线技术领域。包括步骤，1)建立要进行误差分析的天线模型；2)设置误差模型；3)计算天线阵列理想场方向图；4)计算功率方向图期望；5)计算功率方向图方差；6)设置概率，计算受到通道误差扰动的含单元互耦效应的天线阵列功率方向图满足概率要求的上下限；7)判断含单元互耦效应的天线阵列功率方向图的期望、方差及上下限是否满足电性能要求；8)若满足天线阵列电性能，输出模型；若不满足天线阵列电性能要求，更新通道误差模型。解决通道误差对实际天线阵列造成影响后的性能评估问题，以此可指导实际天线阵列加工与制造时允许的误差范围。