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公开(公告)号：CN118858342A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410997666.2
申请日：2024-07-24
Applicant: 厦门大学
IPC: G01N23/2204 , G01N23/2273
Abstract: 一种用于高温电化学的X射线光电子能谱原位测试样品台及其应用，包括从下到上依次设置的底座、垫片、下电极、下金环、上金环、上电极；样品位于上金环和下金环之间；所述下电极和上电极均呈环状结构设置，所述上金环和下金环位于环状结构处；所述环状结构向外延伸设有接触部，以便于与仪器进样托和热电偶连接；所述上电极的环状结构内周设有缺口以便于暴露上金环。本发明可用于样品在高温、一定气氛和压强和外加电压或电流条件下的X射线光电子能谱的原位测试，从而更好地对固体电化学、光电化学和薄膜制备等学科领域进行深入研究。
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