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公开(公告)号：CN115472208A
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202210971731.5
申请日：2022-08-12
Applicant: 厦门大学
Inventor： 李秋红 , 吴天成 , 谷岳峰
IPC: G11C29/32 , G11C29/44 , G11C29/10
Abstract: 本发明涉及一种存储器三单元耦合故障检测方法、终端设备及介质，该方法中提出了一种时间复杂度为58N的三单元耦合故障的高效检测算法，与现有检测算法对比，该算法具有更低的算法复杂度和更高的故障覆盖率，可以降低SRAM或DRAM存储器的检测成本。
