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公开(公告)号：CN117129772A
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN202310986871.4
申请日：2023-08-07
Applicant: 南通大学
Abstract: 本发明公开一种利用转动超精细Stark谱实现静电场测绘的方法，方法为：步骤一：利用一对同频率的反向激光干涉形成一维光晶格，利用一束近共振蓝失谐激光将冷分子囚禁在光晶格的波节处，并将其他波节处的冷分子剔除，只在某一波节处装载单个冷分子；步骤二：利用另一可调谐激光照射到冷分子上，通过光谱仪测量冷分子超精细能级的Stark谱线，并与零电场时的谱线位置做比较，获得某一电场下的Stark谱线频移；步骤三：根据某一超精细谱线在电场中的Stark频移以及谱线频移与电场的关系即可求出冷分子所在位置的电场大小。本方案更适用于空间电场分布比较复杂的情况，原理简单、测量更直接；本方案测量所获得的电场有更高的测量灵敏度以及精度。
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