公开(公告)号：CN116990382B

公开(公告)日：2024-04-09

申请号：CN202310520978.X

申请日：2023-05-10

Applicant: 南昌航空大学

Inventor： 宋凯 ,  付少东 ,  王文涛 ,  俞锦雄 ,  王荣彪 ,  崔西明

IPC: G01N27/90 ,  G01N27/9013

Abstract: 本发明公开一种检测小间距铆钉孔缺陷的探头及方法，所述探头包括壳体、激励线圈、第一聚磁磁路、屏蔽层、差动式检测线圈、第二聚磁磁路；激励线圈、第一聚磁磁路、屏蔽层、差动式检测线圈均为空心圆柱体；激励线圈、第一聚磁磁路、屏蔽层嵌套排布；差动式检测线圈、第二聚磁磁路由外往内依次嵌套，两差动式检测线圈水平并列排布，共同置于激励线圈内部。本发明提供的检测小间距铆钉孔缺陷探头结构使其不受铆钉间距的影响并可根据铆钉孔大小调节差动式检测线圈位置，同时大内径激励线圈增强了探头的渗透能力，提高检测信号的信噪比和检测效率。

公开(公告)号：CN116990382A

公开(公告)日：2023-11-03

申请号：CN202310520978.X

申请日：2023-05-10

Applicant: 南昌航空大学

Inventor： 宋凯 ,  付少东 ,  王文涛 ,  俞锦雄 ,  王荣彪 ,  崔西明

IPC: G01N27/90 ,  G01N27/9013

Abstract: 本发明公开一种检测小间距铆钉孔缺陷的探头及方法，所述探头包括壳体、激励线圈、第一聚磁磁路、屏蔽层、差动式检测线圈、第二聚磁磁路；激励线圈、第一聚磁磁路、屏蔽层、差动式检测线圈均为空心圆柱体；激励线圈、第一聚磁磁路、屏蔽层嵌套排布；差动式检测线圈、第二聚磁磁路由外往内依次嵌套，两差动式检测线圈水平并列排布，共同置于激励线圈内部。本发明提供的检测小间距铆钉孔缺陷探头结构使其不受铆钉间距的影响并可根据铆钉孔大小调节差动式检测线圈位置，同时大内径激励线圈增强了探头的渗透能力，提高检测信号的信噪比和检测效率。