一种测量等离子体电子非广延参数的方法

    公开(公告)号:CN110740558B

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN201910985875.4

    申请日:2019-10-18

    Applicant: 南昌大学

    Abstract: 本发明涉及一种测量等离子体电子非广延参数的方法,采用非广延统计力学和电探针测量等离子体非广延参数。本发明将等离子体由非广延统计力学描述,并在此基础上建立非广延电单探针(测量)理论。应用非广延电单探针我们测得了传统电单探针无法测得的电子非广延参数,并且获得了较传统单探针更精确的电子温度、等离子体电位、电子密度和悬浮电位。通过本发明的技术方案,非广延电探针在等离子体诊断中发挥作用,将测量等离子体非广延性,并提高其它等离子体参数的诊断精度。

    一种测量等离子体离子非广延参数的方法

    公开(公告)号:CN112888128A

    公开(公告)日:2021-06-01

    申请号:CN202110059985.5

    申请日:2021-01-18

    Applicant: 南昌大学

    Abstract: 本发明涉及一种测量等离子体离子非广延参数的方法,包括如下步骤:用非广延统计力学描述等离子体,求得描述测地声模频率与等离子体离子声速之间关系的公式;收集待测等离子体所在装置中的测地声模的频率和等离子体温度的测量数据;利用求得的描述测地声模频率与等离子体离子声速之间关系的公式对收集到的待测等离子体所在装置中的测地声模的频率和等离子体温度的测量数据进行线性拟合得到斜率值;根据求得的公式和得到的斜率值,并结合所测等离子体所在装置的安全因子,数值求解得到离子非广延参数。本发明填补了在非广延参数诊断中,电子非广延参数已可由非广延电单探针测得而对应的离子非广延参数还无法诊断的空白。

    一种测量等离子体电子非广延参数的方法

    公开(公告)号:CN110740558A

    公开(公告)日:2020-01-31

    申请号:CN201910985875.4

    申请日:2019-10-18

    Applicant: 南昌大学

    Abstract: 本发明涉及一种测量等离子体电子非广延参数的方法,采用非广延统计力学和电探针测量等离子体非广延参数。本发明将等离子体由非广延统计力学描述,并在此基础上建立非广延电单探针(测量)理论。应用非广延电单探针我们测得了传统电单探针无法测得的电子非广延参数,并且获得了较传统单探针更精确的电子温度、等离子体电位、电子密度和悬浮电位。通过本发明的技术方案,非广延电探针在等离子体诊断中发挥作用,将测量等离子体非广延性,并提高其它等离子体参数的诊断精度。

    一种测量等离子体离子非广延参数的方法

    公开(公告)号:CN112888128B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202110059985.5

    申请日:2021-01-18

    Applicant: 南昌大学

    Abstract: 本发明涉及一种测量等离子体离子非广延参数的方法,包括如下步骤:用非广延统计力学描述等离子体,求得描述测地声模频率与等离子体离子声速之间关系的公式;收集待测等离子体所在装置中的测地声模的频率和等离子体温度的测量数据;利用求得的描述测地声模频率与等离子体离子声速之间关系的公式对收集到的待测等离子体所在装置中的测地声模的频率和等离子体温度的测量数据进行线性拟合得到斜率值;根据求得的公式和得到的斜率值,并结合所测等离子体所在装置的安全因子,数值求解得到离子非广延参数。本发明填补了在非广延参数诊断中,电子非广延参数已可由非广延电单探针测得而对应的离子非广延参数还无法诊断的空白。

Patent Agency Ranking