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公开(公告)号：CN113688061A
公开(公告)日：2021-11-23
申请号：CN202111251195.3
申请日：2021-10-27
Applicant: 南开大学
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开了一种基于特征选择的程序缺陷定位方法，该方法包括：执行测试样例，得到分支覆盖特征谱；根据分支覆盖特征谱和样本数据集计算缺陷相关统计量；根据缺陷相关统计量得到程序各个元素的可疑度；根据程序元素的可疑度将其排序,按序排查代码。本发明提出了基于相关统计量的缺陷定位方法，从数据的角度分析测试用例的覆盖信息，利用特征选择中特征对分类结果重要性的概念，选择对测试用例执行结果影响较大的分支。计算复杂度低。相比较传统启发式的基于覆盖分析的缺陷定位方法在准确性上具有一定的提升，并通过提高缺陷查找效率缩短了纠错性维护的时间和人力成本。
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