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公开(公告)号：CN118483220A
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202410651811.1
申请日：2024-05-24
Applicant: 南开大学
IPC: G01N21/84
Abstract: 本发明公开了一种用于晶态物质的光学热分析方法及装置，涉及物质热分析技术领域，该方法包括：获取待测晶态物质的热行为图像以及温度数据；对热行为图像进行图像处理，得到图像数据；根据待测晶态物质的图像数据以及温度数据，绘制像素曲线，并对像素曲线进行差分分析，得到待测晶态物质的像素变化速率曲线；根据像素曲线以及像素变化速率曲线，确定待测晶态物质的热行为。与差示扫描量热法和粉末X射线衍射等晶态物质分析方法相比，本发明基于光学显微镜获得的动态图像进行晶态物质的热行为分析，只需要微克级样品，且显著提高了检测的灵敏度，大幅增强了对不同晶态物质的检出分析能力，从而使本发明能够更加准确地区分不同晶相的热行为。
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