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公开(公告)号：CN1912564B
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN200610015454.1
申请日：2006-08-28
Applicant: 南开大学
Abstract: 本发明涉及一种保偏光纤拍长测试仪及应用，特别是采用压力微扰法测量保偏光纤的拍长参数的测试仪。压力微扰法测量保偏光纤的拍长技术，当前实用化技术水平低。知国内一些单位所用仪器也多为实验室水平。本发明的这种保偏光纤拍长测试仪，是由精密微位移控制装置、信号处理分析控制系统、液晶触摸屏显示系统、上位机分析处理系统、光纤传输偏振态直接耦合调节装置、压力施加装置、光路系统组成。本发明的有益效果：可实现50nm分辨率和10μm测量精度。仪器易损件可方便更换；可通过轴承对对被测光纤施压，光纤不易断裂；采用液晶触摸屏交互模式，可独立进行测试工作；可实现与上位机的通讯，并可用于对光纤性能的分析处理。
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公开(公告)号：CN1912564A
公开(公告)日：2007-02-14
申请号：CN200610015454.1
申请日：2006-08-28
Applicant: 南开大学
Abstract: 本发明涉及一种保偏光纤拍长测试仪及应用，特别是采用压力微扰法测量保偏光纤的拍长参数的测试仪。压力微扰法测量保偏光纤的拍长技术，当前实用化技术水平低。国内一些单位所用仪器也多为实验室水平。本发明的这种保偏光纤拍长测试仪，是由精密微位移控制装置、信号处理分析控制系统、液晶触摸屏显示系统、上位机分析处理系统、光纤传输偏振态直接耦合调节装置、压力施加装置、光路系统组成。本发明的有益效果：可实现50nm分辨率和10μm测量精度。仪器易损件可方便更换；可通过轴承对对被测光纤施压，光纤不易断裂；采用液晶触摸屏交互模式，可独立进行测试工作；可实现与上位机的通讯，并可用于对光纤性能的分析处理。
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