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公开(公告)号:CN106990055A
公开(公告)日:2017-07-28
申请号:CN201710167935.2
申请日:2017-03-21
Applicant: 南开大学
CPC classification number: G01N21/31 , G01N1/38 , G01N2001/386
Abstract: 本发明为一种测定手机电路板中金钯含量的方法,属于资源循环领域。目前国内针对废旧电路板的研究多以金属回收为主,极少针对所电子废弃物成分测定方法进行探讨。本发明通过王水‑高氯酸‑盐酸法高温消解处理,电感耦合等离子体原子发射光谱法,即ICP‑AES进行测定。本发明对于测定废旧手机电路板中的钯金含量较为快速便捷,消解时间短,无需贵重设备,测定结果可信度较高,对于不同种类电子废弃物金属含量成分的测定具有普适性。
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公开(公告)号:CN106086417A
公开(公告)日:2016-11-09
申请号:CN201610496735.7
申请日:2016-06-27
Applicant: 南开大学
CPC classification number: Y02P10/234 , Y02P10/236 , C22B7/006 , C22B11/046 , C22B15/0073 , C22B15/0091
Abstract: 本发明为一种从废旧手机电路板中提取铜和金的方法,属于资源循环领域。目前针对电路板中金属的提取主要对象是电脑主板,而针对手机电路板中金属的提取方法很少,本专利提供的方法可以解决这一问题。同时,针对以往硫脲法应用于金的提取存在的问题,本专利提供的优化后的参数可以解决这一问题。本专利主要通过“硝酸法—硫脲法”两步法完成铜和金的提取,通过该方法可以得到高的铜、金浸取效率。本方法可以用于资源循环企业处理废旧手机电路板中的金属。
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