公开(公告)号：CN1671068A

公开(公告)日：2005-09-21

申请号：CN200510013239.3

申请日：2005-03-24

Applicant: 南开大学

Inventor： 贾颖新 ,  王建伟 ,  阎少林 ,  冯洪辉

IPC: H04B7/005 ,  H01P1/20

Abstract: 本发明涉及模拟信号处理和通信技术，特别是涉及高温超导滤波器的群时延均衡技术，应用于高温超导薄膜的微波技术领域。它是由高温超导微带滤波器，3dB混合耦合器与两个单端口反射滤波器构成，为平面微带结构，它适用于对卫星接收系统射频前端或者移动通信系统中基站接收前端的高温超导滤波器进行相位均衡，减小相位失真。本发明的有益效果：能够最大程度的实现滤波器的群时延均衡，设计和调整独立于所要均衡的滤波器。只需要根据所要均衡的滤波器的群时延特性对单端口反射滤波器进行调整，最终实现滤波器的均衡。进一步的小型化，集成在同一介质基片上，这样比利用两个器件(滤波器与均衡器)进行级联具有更小的插入损耗，并且性能更加稳定。

公开(公告)号：CN1580792A

公开(公告)日：2005-02-16

申请号：CN200410019248.9

申请日：2004-05-19

Applicant: 南开大学

Inventor： 阎少林 ,  张旭 ,  冯洪辉

IPC: G01R27/02

Abstract: 本发明涉及一种测量表面电阻的方法及其装置，用于检测金属材料、超导薄膜材料、尤其是用于检测高温超导薄膜材料的表面电阻的方法及测量装置，属于电子技术领域。它采用了一端短路而另一端处于开放状态的介质加载谐振器。通过分别对两个材料相同、长度一样、直径不等的介质圆柱组成的微波介质加载谐振腔的测量，可以确定除测试样品以外其它损耗所对应的系统品质因数值Qr，进而对被测样品进行测量，可得到被测样品的表面电阻Rs。测量过程简单、快捷、测试结果精度高，解决了以往测量表面电阻的局限性，如测量样品被破坏，或测量中需要多片样品，或测量中需要依赖校准件。实现了非损伤性单片超导薄膜表面电阻的绝对测量。

公开(公告)号：CN1329737C

公开(公告)日：2007-08-01

申请号：CN200410019248.9

申请日：2004-05-19

Applicant: 南开大学

Inventor： 阎少林 ,  张旭 ,  冯洪辉

IPC: G01R27/02

Abstract: 本发明涉及一种测量表面电阻的方法及其装置，用于检测金属材料、超导薄膜材料、尤其是用于检测高温超导薄膜材料的表面电阻的方法及测量装置，属于电子技术领域。它采用了一端短路而另一端处于开放状态的介质加载谐振器。通过分别对两个材料相同、长度一样、直径不等的介质圆柱组成的微波介质加载谐振腔的测量，可以确定除测试样品以外其它损耗所对应的系统品质因数值Qr，进而对被测样品进行测量，可得到被测样品的表面电阻Rs。测量过程简单、快捷、测试结果精度高，解决了以往测量表面电阻的局限性，如测量样品被破坏，或测量中需要多片样品，或测量中需要依赖校准件。实现了非损伤性单片超导薄膜表面电阻的绝对测量。