公开(公告)号：CN107132272A

公开(公告)日：2017-09-05

申请号：CN201710425846.3

申请日：2017-06-08

Applicant: 南京理工大学 ,  南京晨光集团有限责任公司

Inventor： 卜雄洙 ,  孟哲 ,  张振 ,  王正成 ,  许有昌 ,  高敏杰 ,  孙斌 ,  宛静 ,  耿永健

IPC: G01N27/84

CPC classification number: G01N27/84

Abstract: 本发明公开了一种多尺寸多结构工件的荧光磁粉表面缺陷成像检测系统，该系统包括检测床身、工件对中夹持装置、工件运动机构、磁悬液喷淋与回收装置、磁化装置、紫外光源、自动检测控制单元、图像采集设备及其多自由度运动机构、图像处理单元；工件对中夹持装置用于固定工件并保持其轴线与采集设备光心垂直方向一致；自动检测控制单元用于控制不同类型工件检测方式；磁悬液喷淋与回收装置、磁化装置用于形成表面缺陷磁痕；工件旋转运动机构、紫外光源、图像采集设备相互配合以获取工件不同位置和不同表面图像，并送入图像处理单元获取缺陷信息。本发明可解决不同结构、不同几何尺寸工件的磁粉成像检测问题，检测更安全快速、精确直观。

公开(公告)号：CN107132272B

公开(公告)日：2021-05-04

申请号：CN201710425846.3

申请日：2017-06-08

Applicant: 南京理工大学 ,  南京晨光集团有限责任公司

Inventor： 卜雄洙 ,  孟哲 ,  张振 ,  王正成 ,  许有昌 ,  高敏杰 ,  孙斌 ,  宛静 ,  耿永健

IPC: G01N27/84

Abstract: 本发明公开了一种多尺寸多结构工件的荧光磁粉表面缺陷成像检测系统，该系统包括检测床身、工件对中夹持装置、工件运动机构、磁悬液喷淋与回收装置、磁化装置、紫外光源、自动检测控制单元、图像采集设备及其多自由度运动机构、图像处理单元；工件对中夹持装置用于固定工件并保持其轴线与采集设备光心垂直方向一致；自动检测控制单元用于控制不同类型工件检测方式；磁悬液喷淋与回收装置、磁化装置用于形成表面缺陷磁痕；工件旋转运动机构、紫外光源、图像采集设备相互配合以获取工件不同位置和不同表面图像，并送入图像处理单元获取缺陷信息。本发明可解决不同结构、不同几何尺寸工件的磁粉成像检测问题，检测更安全快速、精确直观。

公开(公告)号：CN104914164B

公开(公告)日：2017-12-29

申请号：CN201510260826.6

申请日：2015-05-21

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 卜雄洙 ,  侯亚宾 ,  许有昌 ,  王新征 ,  张振 ,  宛静 ,  耿永健 ,  严曙 ,  孟哲

IPC: G01N29/06

Abstract: 本发明公开了一种基于DAC曲线的超声波C扫描成像方法，本方法将检测时超声探伤系统所获得的回波高度与所拟合的DAC曲线相应声程处的高度进行对比，得出两者dB差值，根据其差值或者最高回波高度所位于的曲线区间进行颜色值调制，结合探伤系统扫查装置所处的工件位置生成C扫描图像。本方法采用了DAC曲线，可补偿材料衰减、近场效果、声速散射及表面粗糙等因素产生的影响，在定量分析时可避免后续C扫描图像的边缘检测、分割等处理，可根据调制C扫描图像时的颜色设定，直观的确定出工件缺陷当量大小或范围，从而省略缺陷分析时的像素统计步骤，降低检测结果处理的复杂性。

公开(公告)号：CN104914164A

公开(公告)日：2015-09-16

申请号：CN201510260826.6

申请日：2015-05-21

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 卜雄洙 ,  侯亚宾 ,  许有昌 ,  王新征 ,  张振 ,  宛静 ,  耿永健 ,  严曙 ,  孟哲

IPC: G01N29/06

Abstract: 本发明公开了一种基于DAC曲线的超声波C扫描成像方法，本方法将检测时超声探伤系统所获得的回波高度与所拟合的DAC曲线相应声程处的高度进行对比，得出两者dB差值，根据其差值或者最高回波高度所位于的曲线区间进行颜色值调制，结合探伤系统扫查装置所处的工件位置生成C扫描图像。本方法采用了DAC曲线，可补偿材料衰减、近场效果、声速散射及表面粗糙等因素产生的影响，在定量分析时可避免后续C扫描图像的边缘检测、分割等处理，可根据调制C扫描图像时的颜色设定，直观的确定出工件缺陷当量大小或范围，从而省略缺陷分析时的像素统计步骤，降低检测结果处理的复杂性。