公开(公告)号：CN104634449A

公开(公告)日：2015-05-20

申请号：CN201510075328.4

申请日：2015-02-12

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 钱芸生 ,  史继芳 ,  邱亚峰 ,  王生云 ,  富容国 ,  李琪 ,  孙宇楠 ,  刘健 ,  徐茜茜 ,  王丽

IPC: G01J1/44

Abstract: 本发明公开了一种微光ICCD信噪比测试系统及测试方法，它包括信噪比的测试系统和具体测试方法。本发明将ICCD置于暗箱中，均匀光入射ICCD，给ICCD加工作电压使其正常工作；调节渐变楔形光阑和可变孔径光阑改变光照度，采集ICCD的图像信号，得到平均信号值和均方根噪声值；挡住入射光源，采集暗背景下ICCD的图像信号，得到平均信号值和噪声均方根值；通过数据处理计算ICCD的信噪比值。该测试方法可以科学地评价ICCD的噪声特性，在微光器件的研制和生产中得到广泛应用。

公开(公告)号：CN104634449B

公开(公告)日：2016-07-06

申请号：CN201510075328.4

申请日：2015-02-12

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 钱芸生 ,  史继芳 ,  邱亚峰 ,  王生云 ,  富容国 ,  李琪 ,  孙宇楠 ,  刘健 ,  徐茜茜 ,  王丽

IPC: G01J1/44

Abstract: 本发明公开了一种微光ICCD信噪比测试系统及测试方法，它包括信噪比的测试系统和具体测试方法。本发明将ICCD置于暗箱中，均匀光入射ICCD，给ICCD加工作电压使其正常工作；调节渐变楔形光阑和可变孔径光阑改变光照度，采集ICCD的图像信号，得到平均信号值和均方根噪声值；挡住入射光源，采集暗背景下ICCD的图像信号，得到平均信号值和噪声均方根值；通过数据处理计算ICCD的信噪比值。该测试方法可以科学地评价ICCD的噪声特性，在微光器件的研制和生产中得到广泛应用。