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公开(公告)号：CN115289993A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202210700092.9
申请日：2022-06-20
Applicant: 南京林业大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及一种基于半导体激光器的辅助检测装置，包括检测台、放置台、移动滑台，检测台顶部中心转动设置放置台，放置台包括底座壳体、第一反射镜、第一二向色镜，底座壳体内壁底端设置第一反射镜，底座壳体顶部设置第一二向色镜；检测台两侧设有滑轨组，滑轨组上滑动设置移动滑台，移动滑动台上设有活动座，两个活动座上设有横梁架，横梁架中部底端依次排列设置的第一激光扫描仪、第二激光扫描仪和第三激光扫描仪，第一激光扫描仪、第二激光扫描仪和第三激光扫描仪分别射出三种不同波长的光束λ1、λ2和λ3；使得激光能够照射在工件的不同位置，能够快速测量出工件的完整轮廓，能够对异型工件进行扫描。
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