一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针

    公开(公告)号:CN211834848U

    公开(公告)日:2020-11-03

    申请号:CN202020279409.2

    申请日:2020-03-09

    Abstract: 本实用新型涉及医疗器械领域,具体涉及一种用于上颌磨牙腭根探诊的探针。包括手柄、连接杆和探针段,探针段通过连接杆与手柄连接,在连接杆靠近手柄的一端设置有第一拐点,在连接杆靠近探针段的一端设置有第二拐点,探针段的末端表面设置有第一刻度线、第二刻度线和第三刻度线。本实用新型通过在探针的连接杆上设置两个拐点,提高上颌磨牙腭根探诊的精度和效率。

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