一种基于径向结叠层结构的三原色光电探测方法

    公开(公告)号:CN104900746B

    公开(公告)日:2017-04-12

    申请号:CN201510246893.2

    申请日:2015-05-14

    Applicant: 南京大学

    CPC classification number: Y02P70/521

    Abstract: 本发明公开了一种用于三原色光电探测的径向结叠层结构,在竖直硅纳米线表面覆盖生长多层不同掺杂类型的非晶硅,形成两层由内而外的PIN结构;并在两层结构之间淀积一层ITO透明导电膜以探测内外两层的光电探测响应电流;基于得到的径向结结构的腔体模式耦合特性,外层PIN结构的本征非晶硅作为吸收层对短波段(偏蓝)的入射光有较强响应;内层PIN结构的本征非晶硅对长波段(偏红)的光有较强响应;当内外两层串联时,光响应波段是两者的交集部分,实现对可见光波段内三原色的分别探测;而且该探测技术利用的是两层p‑i‑n结构对不同波段的响应差。该径向结叠层结构用于视网膜三原色的光电探测技术在节约材料,缩减工艺,降低电压,提高灵敏度,以及工作稳定性等方面展示出了极大的优势。

    一种基于径向结叠层结构的三原色光电探测方法

    公开(公告)号:CN104900746A

    公开(公告)日:2015-09-09

    申请号:CN201510246893.2

    申请日:2015-05-14

    Applicant: 南京大学

    CPC classification number: Y02P70/521 H01L31/1055 H01L31/035281 H01L31/202

    Abstract: 本发明公开了一种用于三原色光电探测的径向结叠层结构,在竖直硅纳米线表面覆盖生长多层不同掺杂类型的非晶硅,形成两层由内而外的PIN结构;并在两层结构之间淀积一层ITO透明导电膜以探测内外两层的光电探测响应电流;基于得到的径向结结构的腔体模式耦合特性,外层PIN结构的本征非晶硅作为吸收层对短波段(偏蓝)的入射光有较强响应;内层PIN结构的本征非晶硅对长波段(偏红)的光有较强响应;当内外两层串联时,光响应波段是两者的交集部分,实现对可见光波段内三原色的分别探测;而且该探测技术利用的是两层p-i-n结构对不同波段的响应差。该径向结叠层结构用于视网膜三原色的光电探测技术在节约材料,缩减工艺,降低电压,提高灵敏度,以及工作稳定性等方面展示出了极大的优势。

Patent Agency Ranking