一种基于Transformer的端到端芯片版图热点检测方法

    公开(公告)号:CN119940291A

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202510421005.X

    申请日:2025-04-07

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于Transformer的端到端芯片版图热点检测方法,将芯片版图数据转换为二值图像数据,输入到GPU驱动的光刻仿真器中得到光刻后的打印图像,与原二值图像进行度量,得到潜在热点的位置信息;根据原二值图像及光刻后打印图像得到的先验光刻信息,输入训练好的基于transformer的端到端热点检测器,输出热点的位置信息并框选,对版图中的热点进行定位。本发明方法由GPU加速的光刻仿真器驱动,消除了对数据集相关超参数的需求,显著提高了灵活性,减少了计算资源的消耗,同时光刻仿真器的先验知识被集成到框架中,指导热点检测模型聚焦于潜在的热点区域,显著提高了解释性和泛化能力。

    一种芯片版图图案拓扑表示及热点检测方法

    公开(公告)号:CN119337794B

    公开(公告)日:2025-03-14

    申请号:CN202411855892.3

    申请日:2024-12-17

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明公开了一种芯片版图图案拓扑表示及热点检测方法,步骤包括:将版图数据转换为二值图像数据保存;将版图数据中多边形转换为几何序列数据保存;将版图数据中多边形拓扑关系数据保存;构建基于对比学习的热点检测模型,根据保存的数据构建版图训练集和验证集,输入热点检测模型并进行模型训练;分别计算测试版图的热点几何序列表示和非热点几何序列表示,输入训练好的热点检测模型进行测试,得到热点几何序列和非热点几何序列的概率值,判断当前测试版图是否为热点。本发明方法通过序列化表示引入版图全局的拓扑表示信息,并结合对比学习,解决了传统监督学习在不平衡数据集上构建单一决策边界的问题。

    一种芯片版图图案拓扑表示及热点检测方法

    公开(公告)号:CN119337794A

    公开(公告)日:2025-01-21

    申请号:CN202411855892.3

    申请日:2024-12-17

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明公开了一种芯片版图图案拓扑表示及热点检测方法,步骤包括:将版图数据转换为二值图像数据保存;将版图数据中多边形转换为几何序列数据保存;将版图数据中多边形拓扑关系数据保存;构建基于对比学习的热点检测模型,根据保存的数据构建版图训练集和验证集,输入热点检测模型并进行模型训练;分别计算测试版图的热点几何序列表示和非热点几何序列表示,输入训练好的热点检测模型进行测试,得到热点几何序列和非热点几何序列的概率值,判断当前测试版图是否为热点。本发明方法通过序列化表示引入版图全局的拓扑表示信息,并结合对比学习,解决了传统监督学习在不平衡数据集上构建单一决策边界的问题。

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