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公开(公告)号：CN114236468A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111473087.0
申请日：2021-12-02
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种基于有噪声CCD探测的三维激光定位及精度计算方法与系统，该方法在远离光源处，以透镜、CCD和位移台作为测量装置，先对CCD的暗计数进行统计建模；再标定入射光功率与光电流计数的关系；接着根据参数估计理论，给出CCD像素点计数关于光源位置参数的概率分布；然后用测量装置测量并处理数据得到光源的三维坐标；最后可进一步进行精度计算，给出有噪声CCD强度探测进行三维定位的最优位置以及三种理论极限测量精度。与现有技术相比，本发明可以同时测量激光横向和纵向的位置；另外通过本发明的精度计算方法，可以给出沿光传播方向上CCD横向和纵向定位的最优位置，并达到在有噪声情况下定位的极限精度。
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公开(公告)号：CN114236468B
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202111473087.0
申请日：2021-12-02
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种基于有噪声CCD探测的三维激光定位及精度计算方法与系统，该方法在远离光源处，以透镜、CCD和位移台作为测量装置，先对CCD的暗计数进行统计建模；再标定入射光功率与光电流计数的关系；接着根据参数估计理论，给出CCD像素点计数关于光源位置参数的概率分布；然后用测量装置测量并处理数据得到光源的三维坐标；最后可进一步进行精度计算，给出有噪声CCD强度探测进行三维定位的最优位置以及三种理论极限测量精度。与现有技术相比，本发明可以同时测量激光横向和纵向的位置；另外通过本发明的精度计算方法，可以给出沿光传播方向上CCD横向和纵向定位的最优位置，并达到在有噪声情况下定位的极限精度。
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公开(公告)号：CN119294545A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411533583.4
申请日：2024-10-30
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开一种基于受控量子测量过程的量子系统密度矩阵直接表征的方法，属于量子信息科学领域，能够实现对一般的多粒子连续变量量子系统密度矩阵进行直接表征。本发明通过引入控制量子比特对量子系统进行受控的量子测量，将待测密度矩阵元素转移到控制量子比特中，设计受控量子测量过程实现任意密度矩阵元的转移，从而实现对一般的多粒子连续变量量子系统密度矩阵的直接表征。本发明的表征方法包含以下步骤：对于多粒子连续变量量子系统，选用同样粒子数的二能级量子纠缠态作为控制量子比特，量子系统经过受控量子测量过程，其待测密度矩阵元素将转移至纠缠的控制量子比特中，通过测量控制量子比特，实现对多粒子系统密度矩阵元素的直接表征。
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