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公开(公告)号：CN106338497A
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201610822858.5
申请日：2016-09-13
Applicant: 南京大学
IPC: G01N21/552
CPC classification number: G01N21/554
Abstract: 本发明提出了一种面等离子体共振显微成像装置，其中，光源、物镜、CCD相机组成SPR显微成像光路，通过在物镜与相机中间设置PS分光镜，通过PS分光镜将光分成S光和P光，并在CCD相机上分开成像；还可以使用移动平台控制待测样品的移动可以降低背景噪音的干扰，可以较大程度的改善基线的平稳程度，从而可以获得清晰的纳米粒子信号。这两种方法可以改善SPR成像过程中光源波动和机械的整体噪声导致信噪比较低的问题，以及由于光学元件瑕疵，光的干涉等光路问题导致成像背景不均匀从而对实验观察和测量纳米粒子变化造成影响的问题。
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公开(公告)号：CN109035162A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201810733639.9
申请日：2018-07-06
Applicant: 南京大学
CPC classification number: G06T5/006 , G06T7/246 , G06T7/262 , G06T2207/10061 , G06T2207/10064 , G06T2207/20056
Abstract: 本发明公开了一种基于像素重构的图片漂移校正方法，该方法包括以下步骤：(1)按时间序列向系统载入若干图片，选取每张图片关注区域范围，选择合适的拟合参数以及阈值；(2)对所述按时间序列载入的图片与第一张载入的图片进行图像互相关分析，得到每张图片对应的互相关图片，提取每张互相关图片的漂移信息；(3)将所述漂移信息进行高斯拟合确定该图的漂移位移；(4)采用像素重构算法将所述漂移位移进行漂移校正；(5)将所述漂移校正后的图片进行保存。本发明提出的基于像素重构的显微镜漂移校准法，属于采集数据后修正方法，不会带来额外的噪声，不需要对实验仪器进行改造，具有水平漂移现象符合高斯分布的实验数据都可以使用本发明进行校准。
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公开(公告)号：CN109035162B
公开(公告)日：2021-10-19
申请号：CN201810733639.9
申请日：2018-07-06
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种基于像素重构的图片漂移校正方法，该方法包括以下步骤：(1)按时间序列向系统载入若干图片，选取每张图片关注区域范围，选择合适的拟合参数以及阈值；(2)对所述按时间序列载入的图片与第一张载入的图片进行图像互相关分析，得到每张图片对应的互相关图片，提取每张互相关图片的漂移信息；(3)将所述漂移信息进行高斯拟合确定该图的漂移位移；(4)采用像素重构算法将所述漂移位移进行漂移校正；(5)将所述漂移校正后的图片进行保存。本发明提出的基于像素重构的显微镜漂移校准法，属于采集数据后修正方法，不会带来额外的噪声，不需要对实验仪器进行改造，具有水平漂移现象符合高斯分布的实验数据都可以使用本发明进行校准。
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公开(公告)号：CN106338497B
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201610822858.5
申请日：2016-09-13
Applicant: 南京大学
IPC: G01N21/552
Abstract: 本发明提出了一种表面等离子体共振显微成像装置，其中，光源、物镜、CCD相机组成SPR显微成像光路，通过在物镜与相机中间设置PS分光镜，通过PS分光镜将光分成S光和P光，并在CCD相机上分开成像；还可以使用移动平台控制待测样品的移动可以降低背景噪音的干扰，可以较大程度的改善基线的平稳程度，从而可以获得清晰的纳米粒子信号。这两种方法可以改善SPR成像过程中光源波动和机械的整体噪声导致信噪比较低的问题，以及由于光学元件瑕疵，光的干涉等光路问题导致成像背景不均匀从而对实验观察和测量纳米粒子变化造成影响的问题。
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