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发明公开
一种辐照环境下测量器件电学特性的实验系统审中-实审

公开(公告)号：CN119535144A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202411733006.X

申请日：2024-11-29

Applicant: 南京大学

Inventor： 周峰 , 李宇哲 , 罗中易 , 张致远 , 郑昌锐 , 陆海

IPC: G01R31/26 , G01R35/00

Abstract: 本发明提供了一种辐照环境下测量器件电学特性的实验系统，通过触发单元通过模数转换后分别与雪崩测试单元和浪涌测试单元相连，生成测试触发信号；通过雪崩测试单元和浪涌测试单元分别输出对应的测试信号并记录待测器件的电学特性数据；通过控制信号处理单元通过信号综合判断，实现对各测试通道的开关控制；通过自检比较单元接收保护电路产生的自检电流信号并生成对应信号输出至控制信号处理单元；通过判定单元对各测试单元的信号输出进行比较，标记异常单元；通过辐照保护单元隔离辐射环境对测试系统的影响。集成度高、测试方便快捷、直观显示异常情况、大幅减少故障概率等优点。

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