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公开(公告)号：CN108645601A
公开(公告)日：2018-10-12
申请号：CN201810449799.0
申请日：2018-05-11
Applicant: 南京大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种光学微腔的光频域反射装置及其测量方法。装置包括扫频激光器、扫频校正模块、偏振控制与分束模块、光学微腔耦合测量干涉仪、高速采集模块和计算机。扫频激光器发出扫频激光，偏振控制与分束模块控制扫频激光的偏振态并将其分束，第一路光进入扫频校正模块并产生第一拍频信号作为外部时钟；第二路光进入测量干涉仪，其中一部分成为参考光，另一部分经过光纤环形器与被测光学微腔生成背反射信号光，背反射信号光与参考光干涉产生第二拍频信号，高速采集模块和计算机对第二拍频信号进行解调并得出微腔的光学特征信息。本发明提供了新的光学微腔耦合思路，有助于提高耦合质量，能方便地测量光学微腔的品质参数与光谱信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108507981B
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN201810321250.3
申请日：2018-04-11
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种基于OFDR的硅基波导背反射传感装置及其测量方法。装置包括可调谐激光器、触发干涉仪、光纤环形器、偏振控制与分束模块、测量干涉仪、耦合传感模块、高速采集模块和计算机。可调谐激光器发出扫频激光，偏振控制与分束模块控制扫频激光的偏振态并将其分束，第一路光进入触发干涉仪并产生第一拍频信号作为外部时钟；第二路光进入全保偏的测量干涉仪，第三路光经过光纤环形器与耦合传感模块生成背反射信号光，背反射信号光与第二路光干涉产生第二拍频信号，高速采集模块和计算机对第二拍频信号进行解调并得出位置信息。本发明通过快速、方便的非侵入式测量，可以精确测量硅基波导的光束部分长度和光束在硅基波导中的传播质量。
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公开(公告)号：CN110823530A
公开(公告)日：2020-02-21
申请号：CN201911104458.0
申请日：2019-11-13
Applicant: 南京大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种获取微谐振腔品质因子的方法。该方法的步骤包括：将扫频激光分为参考光和耦合入微谐振腔的光，并采集微谐振腔的背反射信号光，背反射信号光与参考光在耦合器中发生拍频干涉；对获取的拍频干涉信号施加傅里叶变换，获取微谐振腔在距离域上的功率衰减信号；并通过线性拟合得到功率衰减因子，最终计算确定微谐振腔品质因子。本发明提供了一种新的计算微谐振腔品质因子的方法，在微谐振腔处只需要单端耦合输入，即可精确、便捷地获得微谐振腔的品质因子。
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公开(公告)号：CN110823530B
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN201911104458.0
申请日：2019-11-13
Applicant: 南京大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种获取微谐振腔品质因子的方法。该方法的步骤包括：将扫频激光分为参考光和耦合入微谐振腔的光，并采集微谐振腔的背反射信号光，背反射信号光与参考光在耦合器中发生拍频干涉；对获取的拍频干涉信号施加傅里叶变换，获取微谐振腔在距离域上的功率衰减信号；并通过线性拟合得到功率衰减因子，最终计算确定微谐振腔品质因子。本发明提供了一种新的计算微谐振腔品质因子的方法，在微谐振腔处只需要单端耦合输入，即可精确、便捷地获得微谐振腔的品质因子。
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公开(公告)号：CN108645601B
公开(公告)日：2019-11-15
申请号：CN201810449799.0
申请日：2018-05-11
Applicant: 南京大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种光学微腔的光频域反射装置及其测量方法。装置包括扫频激光器、扫频校正模块、偏振控制与分束模块、光学微腔耦合测量干涉仪、高速采集模块和计算机。扫频激光器发出扫频激光，偏振控制与分束模块控制扫频激光的偏振态并将其分束，第一路光进入扫频校正模块并产生第一拍频信号作为外部时钟；第二路光进入测量干涉仪，其中一部分成为参考光，另一部分经过光纤环形器与被测光学微腔生成背反射信号光，背反射信号光与参考光干涉产生第二拍频信号，高速采集模块和计算机对第二拍频信号进行解调并得出微腔的光学特征信息。本发明提供了新的光学微腔耦合思路，有助于提高耦合质量，能方便地测量光学微腔的品质参数与光谱信息。
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公开(公告)号：CN108507981A
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201810321250.3
申请日：2018-04-11
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种基于OFDR的硅基波导背反射传感装置及其测量方法。装置包括可调谐激光器、触发干涉仪、光纤环形器、偏振控制与分束模块、测量干涉仪、耦合传感模块、高速采集模块和计算机。可调谐激光器发出扫频激光，偏振控制与分束模块控制扫频激光的偏振态并将其分束，第一路光进入触发干涉仪并产生第一拍频信号作为外部时钟；第二路光进入全保偏的测量干涉仪，第三路光经过光纤环形器与耦合传感模块生成背反射信号光，背反射信号光与第二路光干涉产生第二拍频信号，高速采集模块和计算机对第二拍频信号进行解调并得出位置信息。本发明通过快速、方便的非侵入式测量，可以精确测量硅基波导的光束部分长度和光束在硅基波导中的传播质量。
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