一种基于超导氮化铌复用热、微波及太赫兹的直接检测器

    公开(公告)号:CN108279072A

    公开(公告)日:2018-07-13

    申请号:CN201810047444.9

    申请日:2018-01-18

    Applicant: 南京大学

    CPC classification number: G01J5/24

    Abstract: 本发明公开了一种基于超导氮化铌复用热、微波及太赫兹的直接检测器,包括低温杜瓦、超导氮化铌测辐射热计芯片、聚焦透镜、偏置器、光学斩波器、加热系统、微波注入系统、太赫兹注入系统以及信号检测系统。超导氮化铌测辐射热计芯片设置于低温杜瓦内。低温杜瓦设有透明窗,使得太赫兹波能够通过透明窗进入低温杜瓦的内部,通过聚焦透镜将太赫兹波聚焦于超导氮化铌测辐射热计芯片上。偏置器为T型偏置器连接超导氮化铌测辐射热计芯片。偏置器的射频端口和直流端口分别连接微波注入系统和信号检测系统。加热系统用于加热超导氮化铌测辐射热计芯片。光学斩波器设于低温杜瓦的透明窗之前。太赫兹注入系统设于低温杜瓦的透明窗和光学斩波器之间。

    一种探测超导氮化铌测辐射热计驰豫振荡的微波探针装置

    公开(公告)号:CN109297607A

    公开(公告)日:2019-02-01

    申请号:CN201811060795.X

    申请日:2018-09-12

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明公开了一种探测超导氮化铌测辐射热计驰豫振荡的微波探针装置,包括低温杜瓦、超导氮化铌测辐射热计芯片、聚焦透镜、偏置器、偏置电压源、环形器、频率信号发生器和信号放大器和加热系统。偏置器和偏置电压源用于提供偏置电压。频率信号发生器和环形器用于注入偏置信号。加热系统包括加热电阻、温度计和温度控制器。加热电阻和温度计紧贴超导氮化铌测辐射热计芯片。温度控制器设于低温杜瓦之外,并连接加热电阻和温度计。本发明可以探测超导氮化铌测辐射热计芯片的驰豫振荡现象,为研究各种检测器件的物理现象打开了一扇门,是一个可同时进行频域和时域分析的有力工具,简单方便,有着广阔的应用前景和研究价值。

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