声表面波复合结构材料和应用

    公开(公告)号:CN100553128C

    公开(公告)日:2009-10-21

    申请号:CN200810018878.2

    申请日:2008-01-29

    Applicant: 南京大学

    Inventor: 公勋 商晓莉 章德

    Abstract: 本发明公开了一种应用于如延迟线、滤波器以及谐振器等声表面波器件的温度稳定的复合多层结构材料。由36°-46°Y-X LiTaO3压电单晶基板和沉积其上的一层二氧化碲(TeO2)薄膜构成;声表面波器件结构处在两种材料的界面上。由于压电单晶基板和TeO2薄膜具有相反的温度系数,通过控制薄膜的厚度,可以发挥两种材料的温度补偿效应实现温度稳定性。有高达8%左右的机电耦和系数;可以实现零温度延迟系数(TCD)。实现零TCD所需非晶TeO2薄膜的厚度比传统的SiO2薄膜薄很多。更容易在工艺上实现。这种结构上制作的器件比在单晶基板上实现的器件更可靠。

    声表面波复合结构材料和应用

    公开(公告)号:CN101227178A

    公开(公告)日:2008-07-23

    申请号:CN200810018878.2

    申请日:2008-01-29

    Applicant: 南京大学

    Inventor: 公勋 商晓莉 章德

    Abstract: 本发明公开了一种应用于如延迟线、滤波器以及谐振器等声表面波器件的温度稳定的复合多层结构材料。由36°-46°Y-X LiTaO3压电单晶基板和沉积其上的一层二氧化碲(TeO2)薄膜构成;声表面波器件结构处在两种材料的界面上。由于压电单晶基板和TeO2薄膜具有相反的温度系数,通过控制薄膜的厚度,可以发挥两种材料的温度补偿效应实现温度稳定性。有高达8%左右的机电耦和系数;可以实现零温度延迟系数(TCD)。实现零TCD所需非晶TeO2薄膜的厚度比传统的SiO2薄膜薄很多。更容易在工艺上实现。这种结构上制作的器件比在单晶基板上实现的器件更可靠。

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