一种提高差动电阻式传感器精度的测量方法及系统

    公开(公告)号:CN116295543A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310202579.9

    申请日:2023-03-06

    Abstract: 本发明公开了一种提高差动电阻式传感器精度的测量方法及系统,包括:控制恒定电流流经参比电阻RS、差动电阻式传感器电阻R1和差动电阻式传感器电阻R2;将参比电阻RS、差动电阻式传感器电阻R1和差动电阻式传感器电阻R2上产生的电压引入仪表放大器,并利用ADC转换器获得AD码值ADS、AD码值AD1和AD码值AD2;利用AD码值ADS、AD码值AD1和AD码值AD2计算测量参数Z′;所述测量参数Z′为差动电阻式传感器电阻R1和差动电阻式传感器电阻R2之差比差动电阻式传感器电阻R1和差动电阻式传感器电阻R2之和;在不改变现有差动电阻类传感器结构的基础上,提高该类传感器的灵敏度,而且改善了传感器的线性度。

    一种设备倾斜变形的监测装置及方法

    公开(公告)号:CN117288158A

    公开(公告)日:2023-12-26

    申请号:CN202310983817.4

    申请日:2023-08-07

    Abstract: 本发明公开了一种设备倾斜变形的监测装置及方法,包括第一安装台、第二安装台、辅助定位件、第一测距仪、第二测距仪、测斜仪和处理器;第二安装台位于第一安装台上方;辅助定位件和第一测距仪均设于第一安装台上靠近第二安装台的一侧,辅助定位件的轴向横截面呈现V型,且V型口朝向第二安装台;第一测距仪产生的测距信号垂直于第一安装台;第二测距仪和测斜仪均设于第二安装台上靠近第一安装台的一侧,第二测距仪产生的测距信号垂直于第二安装台;第一测距仪、第二测距仪和测斜仪的输出端均与处理器的输入端相连,处理器基于第一测距仪、第二测距仪和测斜仪的输出信号,完成设备倾斜变形监测。本发明能够实现从外部直接测量设备的整体摆幅及倾斜变形。

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