一种改进YOLOv5s的PCB缺陷检测方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118334398A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202311845947.8

    申请日:2023-12-28

    Abstract: 本发明公开了一种改进YOLOv5s的PCB缺陷检测方法,对缺陷表面图像作出预处理,通过数据增强的方法对缺陷图像数据集作出扩充处理,改进模型,基于YOLOv5s模型搭建PCB缺陷检测网络,在模型的主干网络构建以SPDConv为基础的特征重提取模块,在主干网络和颈部网络的衔接处引入上下文注意力模块CSAM,在检测头之前加入多尺度感受野增强模块MREB,以此搭建新的模型网络,并优化损失函数;对新的网络实现模型训练以获得最优检测模型;在测试集上进行模型测试,得到模型的最终检测结果。本发明能够保留更多的细粒度信息和加强特征表示,改善小目标的检测效果;有效解决了通道信息丢失严重的问题,同时加强了特征信息之间不同尺度不同范围的依赖关系,提高检测精度。

    一种基于改进YOLOv7算法的遥感图像检测方法

    公开(公告)号:CN117830866A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202311866369.6

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于改进YOLOv7算法的遥感图像检测方法,包括如下步骤:首先,根据YOLOv7模型搭建遥感检测网络,通过对所述遥感检测网络依次进行参数初始化、设置超参、加载训练集样本以及设置迭代次数的方式,实现模型训练以获得最优检测模型;其次,将测试集样本导入所获得的最优检测模型中进行测试,并对测试集样本进行类别分类和位置回归,得到最终检测结果。本发明提高了小物体的检测精度并轻量化网络模型;能够适应各种复杂的场景;优化了密集目标表达能力与损失函数,缓解了小目标密集重叠问题,在遥感图像检测上取得了良好的检测效果。

    基于改进YOLOX的金属表面缺陷检测方法及系统

    公开(公告)号:CN117635521A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202310678915.7

    申请日:2023-06-09

    Abstract: 本发明公开了基于改进YOLOX的金属表面缺陷检测方法及系统,涉及制品表面目标缺陷检测技术领域,包括:接收带有标注的金属缺陷检测样本,对带有标注的金属缺陷检测样本进行预处理,得到金属缺陷数据集,将训练集输入至预先建立的主干网络内,得到三个原始有效特征图,进行增强,得到增强特征图;将增强特征图输入至预先建立的特征融合网络内进行信息融合,得到融合特征图,将融合特征图进行特征细化操作,得到细化特征图;将细化特征图输入至预先建立的解耦头内进行缺陷初步定位和分类,并进行筛选,得到筛选结果;将筛选结果输入至预先建立的改进模型内,得到最优网络模型,将训练集输入至最优网络模型内,得到检测结果。

    一种基于ESP32的扫描隧道显微镜控制系统

    公开(公告)号:CN116754795B

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202310722570.0

    申请日:2023-06-19

    Abstract: 本发明公开了一种基于ESP32的扫描隧道显微镜控制系统,包括主控芯片ESP32、控制扫描镜头移动的马达步进模块、镜头扫描模块、扫描信号采集模块、用于给探针和样品之间施加电压的施压模块和用于与上位机通讯的通讯模块。主控芯片ESP32拥有独立工作的双核系统且自带扫描信号采集模块和通讯模块,主控芯片ESP32的PWM输出功能通过改变占空比输出不同的波形,再通过低通滤波电路完成DAC转换对缓慢马达控制;IIC通信或SPI通信外挂高速DAC来控制波形的输出对快速马达控制。该发明替代现有的扫描隧道显微镜控制系统,成本低廉、体积小巧、ESP32的硬件资源充分利用同时主控芯片ESP32及其附带的滤波电路、放大电路所用芯片均为国产芯片,避免了芯片依赖进口的困境。

    一种基于CenterNet的水下小目标检测方法及装置

    公开(公告)号:CN116758407A

    公开(公告)日:2023-09-15

    申请号:CN202310648940.0

    申请日:2023-06-02

    Abstract: 本发明提供一种基于CenterNet的水下小目标检测方法及装置,涉及人工智能领域。该水下小目标检测方法,包括以下步骤:对获取的原始图像利用局部信息来增强图像,并对原始图像对比度进行优化;利用HRNet骨干网络提取原始图像的特征得到初始特征图,引入了通道空间注意力模块在空间维度及通道维度对初始特征图进行特征增强得到中间特征图,基于预设的感受野模块融合中间特征图得到最终特征图;对最终特征图进行预测,得到检测结果。解决了现有的方法采用了数据增强的方式来增加样本量,从而提高模型的泛化性能,但同时也增加了参数量,影响了计算速度的问题,相比centernet使用的沙漏网络hourglass,本发明降低了参数量,提升了计算速度。

    一种基于改进retinanet算法的带钢表面缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN115760734A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211390496.9

    申请日:2022-11-08

    Abstract: 本发明公开了一种基于改进retinanet算法的带钢表面缺陷检测方法,包括:获得缺陷图像并对其进行加载以形成缺陷样本,通过数据增方法对所述缺陷样本进行扩充以增加数据集样本,所述数据集样本包括训练集样本、验证集样本和测试集样本;根据retinanet模型搭建表面缺陷检测网络,通过对所述表面缺陷检测网络依次进行参数初始化、设置超参、加载训练集样本以及设置迭代次数的方式,实现模型训练以获得最优检测模型;将所述测试集样本导入所述检测模型中进行测试,并对测试集样本进行类别分类和位置回归,得到最终检测结果;本发明与其他主流检测网络模型相比,在检测钢铁表面缺陷上取得了良好的检测效果。

    一种基于STM32的扫描隧道显微镜控制系统

    公开(公告)号:CN119246894A

    公开(公告)日:2025-01-03

    申请号:CN202411390486.4

    申请日:2024-10-08

    Abstract: 本发明公开一种基于STM32的扫描隧道显微镜控制系统,属于扫描探针显微镜技术领域;控制系统包括:主控芯片STM32、步进马达模块、扫描模块、信号采集模块、通信模块、电压基准模块以及电源模块;其中,电源模块将输入的±15V电压转换为5V及3.3V,为主控芯片STM32和各模块供电,电压基准模块给整个系统的电路提供稳定的参考电压,步进马达模块作为粗进机构,将扫描模块移动至样品上方,扫描模块驱动其上的扫描头及探针在样品表面做三维扫描,信号采集模块用于收集针尖和样品之间的隧道电流,并通过通信模块将电流信息发送给控制软件;采用STM32作为主控芯片,配备了两路12位DAC,相比ESP32具有更高的分辨率,可实现更精细的信号控制。

    一种基于STM隧道电流线的异常区域自动检测及快速定位的系统及其方法

    公开(公告)号:CN117706121A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311633690.X

    申请日:2023-12-01

    Abstract: 本发明公开了一种基于STM隧道电流线的异常区域自动检测及快速定位的系统及其方法,包括样品扫描模块、数据记录模块和数据异常分析模块;所述的样品扫描模块用于样品表面形貌进行扫描;所述的数据记录模块用于记录扫描模块扫描过程中的电流变化数据;所述的数据异常分析模块采用滑动窗口法,将窗口外的数据与窗口内的数据比较,检测到异常情况记录异常电流数值,保存并输出检测结果,根据电流值对应的扫描头电压定位找到样品表面的异常位置。该发明通过隧道电流线数据自动检测样品表面的异常区域,检测步骤更加简单、检测效率高;用于各种材料的STM图像的异常检测,无需训练模型,泛化性好;调整滑动窗口的大小,分析样品表面不同尺度的异常区域。

    一种基于深度学习的全自动扫描隧道显微镜控制方法

    公开(公告)号:CN116863228A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202310838644.7

    申请日:2023-07-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于深度学习的全自动扫描隧道显微镜控制方法,主要是将STM与深度学习相结合,由基于标准样品的探针分类模块、基于强化学习的针尖修复模块、自动扫描模块三部分所组成,首先控制探针逼近标准样品,进行扫描成像;其次将扫描后的图像送入探针分类模块,以此输出探针针尖的状态;若状态不好,则送入针尖修复模块,否则进入自动扫描模块,对未知样品进行扫描成像。本发明可以对未知样品实现全自动扫描,提升扫描效率;全自动分区域扫描,实现对未知样品表面扫描的全覆盖;自动判断针尖状态并修复探针,减少重复体力劳动,降低STM对操作人员的技术要求。

    一种基于ESP32的扫描隧道显微镜控制系统

    公开(公告)号:CN116754795A

    公开(公告)日:2023-09-15

    申请号:CN202310722570.0

    申请日:2023-06-19

    Abstract: 本发明公开了一种基于ESP32的扫描隧道显微镜控制系统,包括主控芯片ESP32、控制扫描镜头移动的马达步进模块、镜头扫描模块、扫描信号采集模块、用于给探针和样品之间施加电压的施压模块和用于与上位机通讯的通讯模块。主控芯片ESP32拥有独立工作的双核系统且自带扫描信号采集模块和通讯模块,主控芯片ESP32的PWM输出功能通过改变占空比输出不同的波形,再通过低通滤波电路完成DAC转换对缓慢马达控制;IIC通信或SPI通信外挂高速DAC来控制波形的输出对快速马达控制。该发明替代现有的扫描隧道显微镜控制系统,成本低廉、体积小巧、ESP32的硬件资源充分利用同时主控芯片ESP32及其附带的滤波电路、放大电路所用芯片均为国产芯片,避免了芯片依赖进口的困境。

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