公开(公告)号：CN113642261B

公开(公告)日：2022-01-28

申请号：CN202111200643.7

申请日：2021-10-15

Applicant: 南京信息工程大学

Inventor： 武业文 ,  杨建伟 ,  来鹏 ,  李丹 ,  周鸿玲 ,  曾实

IPC: G06F30/27 ,  G06K9/62 ,  G06F111/08

Abstract: 本发明公开了一种电离层TEC扰动判定方法及系统，包括计算出修正的电离层扰动指数；基于所述修正的电离层扰动指数，利用交叉验证法对电离层扰动比例进行处理，确定出电离层扰动最佳比例及对应的电离层扰动指数临界值，进而完成电离层扰动状态的判定。本发明提出一种电离层TEC扰动判定方法及系统，通过修正归一化电离层指数、提出交叉验证法判定电离层扰动比例，实现电离层TEC扰动判定。

公开(公告)号：CN113642261A

公开(公告)日：2021-11-12

申请号：CN202111200643.7

申请日：2021-10-15

Applicant: 南京信息工程大学

Inventor： 武业文 ,  杨建伟 ,  来鹏 ,  李丹 ,  周鸿玲 ,  曾实

IPC: G06F30/27 ,  G06K9/62 ,  G06F111/08

Abstract: 本发明公开了一种电离层TEC扰动判定方法及系统，包括计算出修正的电离层扰动指数；基于所述修正的电离层扰动指数，利用交叉验证法对电离层扰动比例进行处理，确定出电离层扰动最佳比例及对应的电离层扰动指数临界值，进而完成电离层扰动状态的判定。本发明提出一种电离层TEC扰动判定方法及系统，通过修正归一化电离层指数、提出交叉验证法判定电离层扰动比例，实现电离层TEC扰动判定。