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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119692144A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411835330.2
申请日：2024-12-13
Applicant: 南京信息工程大学
IPC: G06F30/25 , G16C20/30 , G16C20/70 , G06F18/241 , G06F18/2415 , G06F111/08 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开了一种太阳质子事件导致航天电子器件发生单粒子翻转风险的分析评估方法，包括以下步骤：S1.建立航天电子器件靶材模型，计算目标器件SEU截面与质子能量关系；S2.分析航天器件在轨质子辐射环境要素，获取探测数据并计算SPE的辐射通量；S3.计算SPE发生过程导致的器件单粒子翻转的度量参数；S4.根据计算结果对SPE导致的SEU风险进行评估分级。采用Monte Carlo方法进行电子器件SEU截面计算，能够准确获得单能质子导致的器件敏感区的非弹性能量沉积事件。本申请能够准确有效地为航天器件的故障排查与信息纠错提供依据，并且能够直接应用于现有在轨航天器。
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公开(公告)号：CN119560052B
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202510133013.4
申请日：2025-02-06
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本发明提供了一种复杂化合物电子阻止本领的模拟计算方法，包括以下步骤：S1.根据化合物靶材的分子组成，用计算机模拟构建靶材微观全原子分子结构；S2.随机生成一万条以上的离子运动轨迹，统计出离子穿越靶材时与靶材中各类原子最近距离的分布函数组；S3.从离子运动轨迹中筛选出可使综合重叠指数达到95%以上的10‑100条短轨迹；S4.用含时密度泛函方法模拟离子沿各被选轨迹穿越靶材的过程，各次模拟系统的能量变化之和与离子轨迹长度之和的比值即为化合物对离子的电子阻止本领。本发明提供的方案可以快速准确的计算复杂化合物对离子的电子阻止本领，避免了复杂高成本的实验测量。其中筛选轨迹法将计算成本降到随机入射法的10%。
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公开(公告)号：CN119312014A
公开(公告)日：2025-01-14
申请号：CN202411835291.6
申请日：2024-12-13
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本发明提供一种确定太阳质子事件能谱的参数限定蒙特卡洛方法，包括以下步骤：S1.获取空间质子探测器各能道的质子时变通量，判定太阳质子事件发生的始末；S2.计算太阳质子事件发生期间各能道质子去除太阳活动平静期背景后的总通量；S3.根据S2得到的总通量对质子双幂律能谱函数的参数进行对数变换来确定抽样范围,使用均匀随机的蒙特卡洛方法在确定的抽样范围中对参数进行抽样，使用积分法对能谱进行拟合；S4.获得质子连续能谱的一组最优参数并结合能谱函数画出能谱曲线。本发明所提出的蒙特卡洛方法在拟合过程中提高了计算效率，提升拟合精度。通过使用积分法，避免了对卫星观测能道能段的校准需求，解决了因校准而导致的误差累积问题。
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公开(公告)号：CN119312014B
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411835291.6
申请日：2024-12-13
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本发明提供一种确定太阳质子事件能谱的参数限定蒙特卡洛方法，包括以下步骤：S1.获取空间质子探测器各能道的质子时变通量，判定太阳质子事件发生的始末；S2.计算太阳质子事件发生期间各能道质子去除太阳活动平静期背景后的总通量；S3.根据S2得到的总通量对质子双幂律能谱函数的参数进行对数变换来确定抽样范围,使用均匀随机的蒙特卡洛方法在确定的抽样范围中对参数进行抽样，使用积分法对能谱进行拟合；S4.获得质子连续能谱的一组最优参数并结合能谱函数画出能谱曲线。本发明所提出的蒙特卡洛方法在拟合过程中提高了计算效率，提升拟合精度。通过使用积分法，避免了对卫星观测能道能段的校准需求，解决了因校准而导致的误差累积问题。
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公开(公告)号：CN119560052A
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202510133013.4
申请日：2025-02-06
Applicant: 南京信息工程大学
Abstract: 本发明提供了一种复杂化合物电子阻止本领的模拟计算方法，包括以下步骤：S1.根据化合物靶材的分子组成，用计算机模拟构建靶材微观全原子分子结构；S2.随机生成一万条以上的离子运动轨迹，统计出离子穿越靶材时与靶材中各类原子最近距离的分布函数组；S3.从离子运动轨迹中筛选出可使综合重叠指数达到95%以上的10‑100条短轨迹；S4.用含时密度泛函方法模拟离子沿各被选轨迹穿越靶材的过程，各次模拟系统的能量变化之和与离子轨迹长度之和的比值即为化合物对离子的电子阻止本领。本发明提供的方案可以快速准确的计算复杂化合物对离子的电子阻止本领，避免了复杂高成本的实验测量。其中筛选轨迹法将计算成本降到随机入射法的10%。
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