公开(公告)号：CN115391685B

公开(公告)日：2023-03-24

申请号：CN202211322039.6

申请日：2022-10-27

Applicant: 南京信息工程大学

Inventor： 陈耀登 ,  崔叶孟

IPC: G06F16/9537 ,  G06F16/215 ,  G06F17/10 ,  G01W1/00

Abstract: 本发明公开了一种散射计风场同化的质控方法、系统、存储介质及设备，包括：获取用于进行同化分析的观测位置处t时刻的散射计风场观测资料；提取t时刻的散射计风场观测资料的背景场中的降雨率；将该降雨率与预先确定的背景场降雨率进行比较，若大于背景场降雨率，则将t时刻的散射计风场观测资料标记为错误观测，不参与同化，否则，参与同化。优点：本发明使用背景场降雨率对散射计风场观测资料进行质控，可以进一步剔除观测资料中的降雨污染，有效补充质控中存在的不足，改进Ku波段散射计的同化水平，从而改进分析和预报水平。

公开(公告)号：CN115391685A

公开(公告)日：2022-11-25

申请号：CN202211322039.6

申请日：2022-10-27

Applicant: 南京信息工程大学

Inventor： 陈耀登 ,  崔叶孟

IPC: G06F16/9537 ,  G06F16/215 ,  G06F17/10 ,  G01W1/00

Abstract: 本发明公开了一种散射计风场同化的质控方法、系统、存储介质及设备，包括：获取用于进行同化分析的观测位置处t时刻的散射计风场观测资料；提取t时刻的散射计风场观测资料的背景场中的降雨率；将该降雨率与预先确定的背景场降雨率进行比较，若大于背景场降雨率，则将t时刻的散射计风场观测资料标记为错误观测，不参与同化，否则，参与同化。优点：本发明使用背景场降雨率对散射计风场观测资料进行质控，可以进一步剔除观测资料中的降雨污染，有效补充质控中存在的不足，改进Ku波段散射计的同化水平，从而改进分析和预报水平。