公开(公告)号：CN117952924A

公开(公告)日：2024-04-30

申请号：CN202410096915.0

申请日：2024-01-24

Applicant: 华南理工大学

Inventor： 高红霞 ,  李冠基 ,  陈山娇 ,  赵金辉 ,  李绍龙

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/74 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/088 ,  G06T7/60 ,  G06T7/70 ,  G06T7/11

Abstract: 本发明公开了一种基于缺陷修复的无监督电子元器件表面缺陷检测方法，包括：1)采集电子元器件图像；2)对电子元器件图像进行数据集划分和数据标注；3)对训练集中的正常电子元器件图像，使用随机缺陷生成法和迁移式缺陷生成法构造缺陷电子元器件图像；4)使用生成的缺陷电子元器件图像进行改进DRAEM模型的训练；5)使用训练好的改进DRAEM模型，在测试集上进行测试，合并过程中产生的中间变量，完成检测结果并可视化输出。本发明可有效用于在仅有正常样本训练条件下的电子元器件表面缺陷检测，实现在零缺陷样本条件下的检测模型训练，降低了模型开发成本，优化了缺陷检测任务中的缺陷小样本问题，提高电子元器件的缺陷检测精度。