-
公开(公告)号:CN114066811A
公开(公告)日:2022-02-18
申请号:CN202111191074.4
申请日:2021-10-13
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种工业产品异常检测方法、系统、装置及存储介质,其中方法包括:获取待检测图像,将待检测图像输入编码器,获得第一编码特征,根据第一编码特征和预设的全局模板特征进行余弦相似度计算,获得相似性得分图;将相似性得分图和预设的阈值分数图进行比较,获取异常特征,将异常特征替换为对应位置的模板特征;将特征修正后的编码特征输入解码器中,获得重建图像;将待检测图像和重建图像进行相似度分数计算,根据相似度分数进行阈值分割,获得待检测图像中存在异常的图像区域。本发明针对实际检测图像的特点制定模板特征,克服重建模型无法重建严重异常的缺点,具有自适应性和抗干扰能力,可广泛应用于工业产品异常检测技术领域。
-
公开(公告)号:CN114066811B
公开(公告)日:2024-03-19
申请号:CN202111191074.4
申请日:2021-10-13
Applicant: 华南理工大学
IPC: G06T7/00 , G06T7/136 , G06T5/20 , G06N3/0464 , G06N3/0455 , G06N3/08 , G06V10/762 , G06V10/74
Abstract: 本发明公开了一种工业产品异常检测方法、系统、装置及存储介质,其中方法包括:获取待检测图像,将待检测图像输入编码器,获得第一编码特征,根据第一编码特征和预设的全局模板特征进行余弦相似度计算,获得相似性得分图;将相似性得分图和预设的阈值分数图进行比较,获取异常特征,将异常特征替换为对应位置的模板特征;将特征修正后的编码特征输入解码器中,获得重建图像;将待检测图像和重建图像进行相似度分数计算,根据相似度分数进行阈值分割,获得待检测图像中存在异常的图像区域。本发明针对实际检测图像的特点制定模板特征,克服重建模型无法重建严重异常的缺点,具有自适应性和抗干扰能力,可广泛应用于工业产品异常检测技术领域。
-
公开(公告)号:CN115439408A
公开(公告)日:2022-12-06
申请号:CN202210920393.2
申请日:2022-08-02
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种金属表面缺陷检测方法、装置及存储介质,其中方法包括:根据正常样本图像获取缺陷合成图像;对缺陷合成图像进行双树复小波变换,将图像特征从像素域变换到小波域,获得低频分量和多个尺度的高频分量;对获得的低频分量和高频分量进行修改,并进行逆双树复小波变换,获得重建图像;采用缺陷合成图像和重建图像对图像预测模型进行训练;获取待检测图像,将待检测图像输入训练后的图像预测模型,输出检测结果。本发明不需要收集真实的缺陷样本,仅需要正常样本便可以具备较好的缺陷检测和定位能力,可广泛用于带有一定金属光泽的金属表面的自动在线检测。本发明可广泛应用于金属表面的缺陷检测技术领域。
-
-