公开(公告)号：CN119515830A

公开(公告)日：2025-02-25

申请号：CN202411581245.8

申请日：2024-11-07

Applicant: 华南理工大学

Inventor： 李文科 ,  彭雄彪 ,  徐向民 ,  任威振 ,  陈佳佳

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/764 ,  G06V10/75 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82 ,  G06V10/74 ,  G06N3/045 ,  G06N3/084 ,  G06N3/096

Abstract: 本发明公开了一种PCB的外观缺陷检测系统与假点过滤方法及系统；包括：缺陷图像收集，通过高清相机对产线上的PCB进行原始图像收集；数据预处理，对原始的缺陷图像进行标注与扩充；模型训练与部署，负责模型训练与部署；假点过滤步骤。本发明不需要用户指定缺陷类型，只需给定输入图像，系统就能全自动完成图像缺陷的检测，避免操作繁琐，使用户的使用难度降低。本发明可以实现缺陷预警，满足客户缺陷智能分类和分级别管控需求，提高了复检人员复检效率和准确性，降低了人力成本和错误率。这有助于制造商提升生产效率和产品质量，增强市场竞争力。