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公开(公告)号：CN119438720A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411576315.0
申请日：2024-11-06
Applicant: 华南农业大学
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明专利公开了基于非冗余均匀球面采样的天线球面近场测量方法，具体涉及天线测量领域。步骤如下：确定最小采样距离；基于球面均匀点生成算法产生采样点位置；对采样点位置开展测量，测量探头接收信号分别对应的待测天线辐射场的Eθ和Eφ；基于矢量变换获得Ex、Ey和Ez分量；基于球谐函数计算等角度间隔的Ex′,Ey′和Ez′分量所对应的等角度间隔的E′θ和E′φ；按等间隔采样计算天线的远场辐射参数。采用本发明技术方案解决了在θ接近0°或180°时，φ方向的采样测量点数过多，产生冗余信息，影响测量效率的问题，缩短了测量时间。
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